[发明专利]泵浦-探测法非扫描式测量布里渊增益谱的装置及方法有效
申请号: | 201210505039.X | 申请日: | 2012-11-30 |
公开(公告)号: | CN102967371A | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 高玮;毕雅凤;刘胜男;胡小博;孙培敬;熊燕玲 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨理工大学 |
主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45;G01J3/28 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 张宏威 |
地址: | 150080 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 泵浦 探测 扫描 测量 布里渊 增益 装置 方法 | ||
1.泵浦-探测法非扫描式测量布里渊增益谱的装置,其特征在于,它由光纤激光器(1)、光纤环行器(2)、偏振控制器(3)、待测光纤(4)、光纤隔离器(5)和ASE光源(6)组成;
光纤激光器(1)的激光输出端与光纤环行器(2)的第一端口(2-1)连通,光纤环行器(2)的第二端口(2-2)与偏振控制器(3)的第一端口连通,偏振控制器(3)的第二端口与待测光纤(4)的一端连通;ASE光源(6)的激光输出端与光纤隔离器(5)的光线输入端连通,光纤隔离器(5)的光线输出端与待测光纤(4)的另一端连通,光纤环行器(2)的第三端口(2-3)为所述泵浦-探测法非扫描式测量布里渊增益谱的装置的光线输出端,上述连接均为光纤连接。
2.根据权利要求1所述的泵浦-探测法非扫描式测量布里渊增益谱的装置,其特征在于,所述光纤激光器(1)输出的激光为C波段窄带激光,波长为1550nm,线宽范围为1KHz-10MHz。
3.根据权利要求1所述的泵浦-探测法非扫描式测量布里渊增益谱的装置,其特征在于,所述ASE光源(6)输出的激光为C波段宽带激光,在1550nm附近光谱平坦,光谱平坦范围为1nm-40nm。
4.采用权利要求1所述的泵浦-探测法非扫描式测量布里渊增益谱的装置获得布里渊增益谱的方法,它包括的具体步骤如下:
步骤A1、光纤激光器(1)输出C波段窄带激光;
步骤A2、C波段窄带激光依次经光纤环行器(2)的第一端口、第二端口和偏振控制器(3)进入待测光纤的一端,此光作为泵浦光;
步骤A3、ASE光源(6)输出C波段宽带激光;
步骤A4、C波段宽带激光经光纤隔离器(5)进入待测光纤的另一端,此光作为探测光;
步骤A5、在待测光纤中,泵浦光和探测光中满足待测光纤布里渊频移且在布里渊增益谱范围内的频率分量同时发生相互作用,并对探测光进行布里渊放大;
步骤A6、放大的探测光经过偏振控制器(3)进入光纤环形器(2),由光纤环行器(2)的第三端口输出;
步骤A7:将放大的探测光用法布里-珀罗干涉仪或外差探测的方法进行处理,获得其光谱分布,所述光谱分布即为待测光纤的布里渊增益谱。
5.根据权利要求4所述的获得布里渊增益谱的方法,其特征在于,所述步骤A1中的C波段窄带激光为波长为1550nm,线宽范围为1KHz-10MHz的激光。
6.根据权利要求4所述的获得布里渊增益谱的方法,其特征在于,所述步骤A3中的C波段宽带激光为在1550nm附近光谱平坦,光谱平坦范围为1nm-40nm的激光。
7.根据权利要求4所述的获得布里渊增益谱的方法,其特征在于,控制所述步骤A2中的泵浦光的功率在待测光纤的受激布里渊散射阈值以下。
8.根据权利要求7所述的获得布里渊增益谱的方法,其特征在于,所述待测光纤的受激布里渊散射阈值的选取方法为:所述泵浦光通过待测光纤产生的后向散射光功率和泵浦光功率之比为1%时对应的泵浦光功率为此待测光纤的受激布里渊散射阈值。
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