[发明专利]光检测装置和光检测方法无效
申请号: | 201210507327.9 | 申请日: | 2012-11-30 |
公开(公告)号: | CN103163639A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 前田龙男 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G02B21/36 | 分类号: | G02B21/36;G01N21/64 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 方法 | ||
1.一种光检测装置,包括:
图像传感器;
信号获得单元,被配置为获得
第一暗电流,为所述图像传感器在第一曝光时间段中的暗电流,以及
第二暗电流,为所述图像传感器在第二曝光时间段中的暗电流;
曝光时间段确定单元,被配置为基于所述第一暗电流和所述第二暗电流来确定所述图像传感器的最佳曝光时间段;以及
曝光控制器,被配置为控制所述图像传感器在所述最佳曝光时间段进行曝光。
2.根据权利要求1所述的光检测装置,其中
所述信号获得单元被配置为还获得测量电流,所述测量电流是接收参考光的所述图像传感器的输出,以及
所述曝光时间段确定单元被配置为除基于所述第一暗电流和所述第二暗电流以外还基于所述测量电流来确定所述最佳曝光时间段。
3.根据权利要求1所述的光检测装置,其中
所述曝光控制器被配置为当所述最佳曝光时间段超过阈值时确定所述图像传感器的寿命终止。
4.根据权利要求1所述的光检测装置,其中
所述曝光时间段确定单元被配置为基于所述第一暗电流和所述第二暗电流来计算所述图像传感器的读出噪声,并且被配置为将所述读出噪声用于确定所述最佳曝光时间段。
5.一种光检测装置,包括:
激发光源,被配置为以激发光照射测量对象;
图像传感器,由于所述激发光而从所述测量对象中发出的荧光和磷光之一入射至所述图像传感器中;
信号获得单元,被配置为获得
第一暗电流,为所述图像传感器在第一曝光时间段中的暗电流,以及
第二暗电流,为所述图像传感器在第二曝光时间段中的暗电流;
曝光时间段确定单元,被配置为基于所述第一暗电流和所述第二暗电流来确定所述图像传感器的最佳曝光时间段;以及
曝光控制器,被配置为控制所述图像传感器在所述最佳曝光时间段进行曝光。
6.根据权利要求5所述的光检测装置,其中
所述信号获得单元被配置为还获得测量电流,所述测量电流是接收参考光的所述图像传感器的输出,以及
所述曝光时间段确定单元被配置为除基于所述第一暗电流和所述第二暗电流以外还基于所述测量电流来确定所述最佳曝光时间段。
7.根据权利要求5或6所述的光检测装置,其中
所述曝光控制器被配置为当所述最佳曝光时间段超过阈值时确定所述图像传感器的寿命终止。
8.根据权利要求5或6所述的光检测装置,其中
所述曝光时间段确定单元被配置为基于所述第一暗电流和所述第二暗电流来计算所述图像传感器的读出噪声,并且被配置为将所述读出噪声用于确定所述最佳曝光时间段。
9.一种光检测方法,包括:
通过信号获得单元来获得,
第一暗电流,为图像传感器在第一曝光时间段中的暗电流,以及
第二暗电流,为所述图像传感器在第二曝光时间段中的暗电流;
通过曝光时间段确定单元基于所述第一暗电流和所述第二暗电流来确定所述图像传感器的最佳曝光时间段;以及
通过曝光控制器来控制所述图像传感器在所述最佳曝光时间段进行曝光。
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