[发明专利]显示单元和电子装置

说明书

技术领域

本公开涉及包括不发光斑点（坏点）校正能力的显示单元和电子装置。 

背景技术

近年来，在进行图像显示的显示单元的领域中，已经开发出了将诸如有机EL（电致发光）器件的、其发光随流过电流的值而改变的电流驱动型光学器件用作像素发光器件的显示单元，并且其商业化已经取得进展（例如，参见日本待审专利申请公开No.2007-41574）。与液晶器件等不同，有机EL器件是自发光器件。因此，使用有机EL器件的显示单元（有机EL显示单元）消除了提供光源（背光）的必要性，与牵涉到光源的液晶显示单元相比，实现了更高的图像可见度、更低的功耗和更高的器件响应速度。 

与液晶显示单元一样，有机EL显示单元拥有简单（无源）矩阵方法和有源矩阵方法作为它的驱动方法。前者尽管结构简单，但不利之处于于难以实现大尺寸和高清晰度的显示单元。因此，当前，采用有源矩阵方法的有机EL显示单元已得到积极地开发。这种方法使用配备在为每个发光器件准备的驱动电路中的有源器件（通常，TFT（薄膜晶体管））控制流过为每个像素安排的发光器件的电流。 

同时，有机EL器件具有将包括发光层的有机薄膜保持在阳极与阴极之间的结构。在将具有这样结构的有机EL器件用作像素发光器件的有机EL显示单元中，在形成有机EL器件的过程中引入任何外来物质都会引起像素亮度缺陷。具体地说，在制造过程中引入的任何外来物质都可能引起在有机EL器件的阳极与阴极之间的电极间短路。在有机EL器件上的这样电极间短路的情况下，有机EL器件不能进行任何发光操作，这引起了称为所谓不发光斑点（下文叫做坏点）的亮度缺陷，其中包括这样有机EL器件的子像素可看作不发光像素。 

作为对付由引入任何外来物质引起的这样亮度缺陷的措施，过去提出了在单个子像素内提供包括有机EL器件的多组像素配置器件的技术（例如， 参见日本待审专利申请公开No.2007-41574）。即使在由于电极间短路等而在包括在任何组中的有机EL器件中有缺陷的情况下，使用这种技术也可以防止在子像素中出现坏点，因为包括在任何其他组中的像素配置器件正常地工作。 

发明内容

但是，上述措施使像素电路变复杂。于是，可推测提高坏点周围的子像素的亮度，而不是修改像素电路。例如，当在RGB条状排列的显示面板中一个发红色光的子像素变得不发光时，如果进行白色显示，则观看者在与不发光子像素相对应的位置看到翠绿坏点。此时，尽管提高了围绕坏点的多个子像素的亮度，但有可能只提高了坏点周围的白色亮度，坏点可能适得其反地更加明显。因此，只简单地提高围绕坏点的子像素的亮度不能成为对付坏点的措施。 

希望提供允许不会使像素电路变复杂地进行坏点校正的显示单元和电子装置。 

根据本公开实施例的显示单元包括：显示面板，对于每个像素包括发光颜色相互不同的四种或更多种类型的子像素；以及驱动电路，将基于图像信号的脉冲施加到每个子像素，并且当子像素包括坏点的子像素时，将配置用来校正坏点的补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的子像素。 

根据本公开实施例的电子装置配备有显示单元。该显示单元包括：显示面板，对于每个像素包括发光颜色相互不同的四种或更多种类型的子像素；以及驱动电路，将基于图像信号的脉冲施加到每个子像素，并且当子像素包括坏点的子像素时，将配置用来校正坏点的补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的子像素。 

在根据本公开的上述各个实施例的显示单元和电子装置中，为每个像素提供了发光颜色相互不同的四种或更多种类型的子像素。一旦存在坏点的子像素，就将校正坏点的补偿脉冲施加到与该子像素相邻或相近的多个子像素，允许坏点较不可见。也就是说，本公开的上述各个实施例消除了修改像素电路的需要，并且避免了只调整坏点周围的亮度使坏点适得其反地更加明显的缺点。 

在根据本公开的上述各个实施例的显示单元和电子装置中，为每个像素 提供发光颜色相互不同的四种或更多种类型的子像素，并且将校正坏点的补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的多个子像素。因此，可以进行坏点校正而不使像素电路变复杂。 

应该明白，前面的总体描述和后面的详细描述两者都是示例性的，旨在提供要求保护的技术的进一步说明。 

附图说明

包括附图以提供对本公开的进一步理解，并且附图并入本说明书中并构成本说明书的一部分。附图例示了实施例，并与说明书一起用于说明本技术的原理。 

图1是根据本公开第一实施例的显示单元的示意性框图。 

图2是在图1中例示的子像素的电路图。