[发明专利]光学检验方法有效

专利信息
申请号: 201210512945.2 申请日: 2012-12-04
公开(公告)号: CN103808729A 公开(公告)日: 2014-05-21
发明(设计)人: 林金霖 申请(专利权)人: 广达电脑股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 史新宏
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 光学 检验 方法
【权利要求书】:

1.一种光学检验方法,包括:

利用一检验设备取得一待检验物的一图像;

决定该图像的一目标图像区域;

取得该目标图像区域的多个检验范围的中心坐标;

将该些中心坐标填入一阵列,并依据该些中心坐标的相对关系重新定序该些中心坐标而得到一重新定序坐标阵列;以及

比较该重新定序坐标阵列与一原始坐标阵列,以检验该些检验范围所对应的该待检验物的部分是否有缺失。

2.根据权利要求1所述的光学检验方法,还包括:

转正该图像,并从转正后的该图像取得该目标图像区域。

3.根据权利要求1所述的光学检验方法,其中该重新定序该些中心坐标的步骤包括:

定义多个x坐标范围与多个y坐标范围;以及

基于该些中心坐标的相对关系,将属于相同x坐标范围的该些中心坐标填入该阵列的同一行,并将属于相同y坐标范围的该些中心坐标填入该阵列的同一列,以得到该重新定序坐标阵列。

4.根据权利要求1所述的光学检验方法,其中于该重新定序坐标阵列与该原始坐标阵列中,不匹配的一元素所对应的该待检验物的部分有缺失。

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