[发明专利]一种自动重合闸自适应检验方法无效
申请号: | 201210518657.8 | 申请日: | 2012-12-06 |
公开(公告)号: | CN103852620A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 闻敏刚 | 申请(专利权)人: | 苏州工业园区新宏博通讯科技有限公司 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00 |
代理公司: | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 杨林洁 |
地址: | 215126 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 自动 合闸 自适应 检验 方法 | ||
技术领域
本发明涉及电力领域,尤其涉及一种自动重合闸自适应检验方法。
背景技术
在现有的生产自动重合闸的实际作业过程中,由于外部环境(温度、气压、光亮)的影响,以及生产过程中焊错电阻,甚至是外部电路的元器件的细微差异,也会导致不同重合闸的性能存在差异性,同一个标准源,由不同的自动重合闸传送到MCU的采样电压值也会存在一些差异,所以,我们不能够用一个绝对的标准线使MCU通过采样值,判断出外部的实际电压。
因此有必要提供一种自动重合闸自适应检验方法来解决上述问题。
发明内容
本发明涉及一种自动重合闸自适应检验方法。
为达到上述目的,本发明提供一种自动重合闸自适应检验方法,其包括以下步骤:a),电压校准,在第一电压下,取得第一采样值;b)微控制单元计算标准线,即计算第一电压与第一采样值的比值;c)微控制单元取得自动重合闸的第二采样值;d)根据步骤b)所述的比值以及第二采样值,利用正比关系计算出第二采样值对应的外部电压。
本发明还提供一种自动重合闸自适应检验系统,其特征在于,包括一自动重合闸,一微控制单元,采样单元,所述微控制单元与采样单元及自动重合闸相连接,所述微控制单元通过采样单元取得一第一电压下的第一采样值,计算标准线,即计算第一电压与第一采样值的比值;所述自动重合闸取得一第二采样值,所述微控制单元依据所述标准线,利用正比关系,计算出第二采样值对应的外部电压。
与现有技术相比,本发明所提供的自动重合闸自适应检验方法,通过软件实现自适应检测功能,避免了对于硬件电路的严格要求,大大的降低了成本。另一方面,由于自适应的功能,在生产过程中也减少了大量的人力成本,减少了外部环境的限制,适用的工作环境更加广泛。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的有关本发明的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的自动重合闸自适应检验方法流程图;
图2为本发明的自动重合闸自适应检验系统结构图。
具体实施方式
以下将结合附图所示的各实施例对本发明进行详细描述。但这些实施例并不限制本发明,本领域的普通技术人员根据这些实施例所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本发明的保护范围内。
参图1所示,本发明所提供的自动重合闸自适应检验方法,其包括以下步骤:S001,电压校准,在第一电压下,取得第一采样值;S002,微控制单元计算标准线,即计算第一电压与第一采样值的比值;S003,微控制单元取得自动重合闸的第二采样值;S004,根据步骤S002所述的比值以及第二采样值,利用正比关系计算出第二采样值对应的外部电压。
本发明还提供一种自动重合闸自适应检验系统,其特征在于,包括一自动重合闸1,一微控制单元MCU2,采样单元3,所述微控制单元2与采样单元3及自动重合闸1相连接,所述微控制单元2通过采样单元3取得一第一电压下的第一采样值,计算标准线,即计算第一电压与第一采样值的比值;所述自动重合闸1取得一第二采样值,所述微控制单元2依据所述标准线,利用正比关系,计算出第二采样值对应的外部电压。
具体的,第二采样值对应的外部电压与第二采样值的比值,等于第一电压与第一采样值的比值。
本发明所提供的自动重合闸自适应检验方法,通过软件实现自适应检测功能,避免了对于硬件电路的严格要求,大大的降低了成本。另一方面,由于自适应的功能,在生产过程中也减少了大量的人力成本,减少了外部环境的限制,适用的工作环境更加广泛。
应当理解,虽然本说明书按照实施方式加以描述,但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案,说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见,本领域技术人员应当将说明书作为一个整体,各实施方式中的技术方案也可以经适当组合,形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
上文所列出的一系列的详细说明仅仅是针对本发明的可行性实施方式的具体说明,它们并非用以限制本发明的保护范围,凡未脱离本发明技艺精神所作的等效实施方式或变更均应包含在本发明的保护范围之内。
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