[发明专利]腐蚀风险提示的方法和预警系统无效
申请号: | 201210519754.9 | 申请日: | 2012-12-06 |
公开(公告)号: | CN102937611A | 公开(公告)日: | 2013-02-20 |
发明(设计)人: | 王栋;黄锦峰;胡文生;谢勇;李念 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G01N27/12 | 分类号: | G01N27/12 |
代理公司: | 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 | 代理人: | 李楠 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 腐蚀 风险 提示 方法 预警系统 | ||
技术领域
本发明涉及环境监测领域,特别是一种应用于设备机房的腐蚀风险提示的方法和预警系统。
背景技术
由于近年来空气污染日益严重,加上IT设备机房环境条件限制、机房改造及装修等原因,在一定时间内,IT设备机房极易聚集一定浓度的腐蚀气体,当腐蚀气体达到一定浓度时,及湿度的影响,容易导致IT设备,特别是其主体部分PCB被腐蚀。PCB主要有芯板、半固化片和外层铜箔组成,虽然众所周知的,PCB表层裸铜有表面处理保护,但在恶劣的污染环境下,PCB的侧蚀(undercut)、表面处理自身的微孔、裂纹,使得污染物能透过表面处理直接与铜接触并造成腐蚀,生成大量的腐蚀物,当腐蚀发展到一定程度则会造成电子线路短路从而导致IT设备故障。目前,即使是抗腐蚀性能最好的热风焊料整平(HASL)表面处理以及有机可焊保护膜(OSP)表面处理在恶劣环境条件下也会被腐蚀。事实上,由于空气污染对机房中设备的腐蚀是长期而全面的,因此,它所产生的影响也是具有时间性,也许在设备运行初期看不到故障出现,可一旦出现故障,则将是IT设备的全面告急,损失无法估量。
“绝对量检测法”是目前对机房腐蚀风险的检测一般采用的检测方法,即通过测试待检测环境中各种腐蚀气体浓度判定腐蚀风险。可是由于不同腐蚀气体对应的测试方法和测试标准都不相同(参见图1),因此执行起来非常不便。另外,由于对未知环境无法预知存在什么种类的腐蚀气体,因此漏检的可能性也很大。此外,该方法仅仅测量腐蚀性气体浓度,无法准确量化的识别腐蚀风险。
此外,“反应式检测法”也是目前比较常用的一种检测方法。即通过将标准铜、银测试片放置于待检测环境中,在放置满1至2个月后将测试片取出并根据测试片上的腐蚀物厚度增量来判定机房腐蚀风险。采用这种方式的检测周期需要1-2个月,检测周期过长导致检测周期内无法知道环境腐蚀情况,当2个月后发现检测片上出现严重腐蚀的情况,置于待检测环境中的工作设备可能也已经遭到腐蚀损坏。这种方法无法进行风险的提前预警,不利于及时采取措施实施改善。
鉴于现有检测方法的局限性,急需一种能提前识别腐蚀风险、实时监控的、便于实现的腐蚀风险提示的方法和腐蚀风险提示预警系统。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中设备腐蚀风险检测操作复杂、容易漏检,以及无法提前预警的问题,提供了一种腐蚀风险提示的方法和腐蚀风险提示预警系统,通过对检测电路板进行加速腐蚀预处理,使检测电路板具有在污染环境下的腐蚀速度比普通光电路板快的特征,通过监控检测电路板的绝缘电阻判定被检测环境的风险等级,在普通电路板发生腐蚀前发出预警,实现了提前预知设备腐蚀风险的功能,并且操作简便,不会漏检错检。
在第一方面,本发明提供了一种腐蚀风险提示的方法,其特征在于,所述方法包括:
对检测电路板进行加速腐蚀预处理;
将加速腐蚀预处理后的检测电路板置于被检测环境中;
测量所述加速腐蚀预处理后的检测电路板的绝缘电阻;
根据所述绝缘电阻判定腐蚀风险等级。
在第二方面,本发明提供了一种腐蚀风险提示的预警系统,其特征在于,所述系统包括:检测电路板、测试电路、比较单元和预警装置;
所述检测电路板加速腐蚀预处理后置于被检测环境中,用于检测所述被检测环境中设备发生腐蚀的风险;
所述测试电路用于测量所述检测电路板的绝缘电阻;
所述比较单元用于根据所述绝缘电阻输出比较结果信号;
所述预警装置用于接收所述比较结果信号,根据比较结果信号输出腐蚀风险等级信息并发出预警。
本发明通过利用加速腐蚀预处理后的检测电路板对环境进行监测,能够提前预知发生腐蚀风险的可能性。
附图说明
图1为现有技术中对应不同腐蚀气体的测试方法和标准;
图2为本发明实施例提供的腐蚀风险检测的方法流程图;
图3a为本发明实施例提供的检测电路板表层走线设计示意图之一;
图3b为本发明实施例提供的检测电路板表层走线设计示意图之二;
图4为本发明实施例提供的检测电路板在不同污染环境下的腐蚀程度对比图;
图5为本发明实施例提供的加速腐蚀处理的检测电路板与未经加速腐蚀处理的检测电路板在污染环境下达到相同腐蚀程度的腐蚀时间对比示意图;
图6为本发明实施例提供的腐蚀风险提示预警系统的结构框图;
图7为本发明实施例提供的一种测试电路的实现方式;
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