[发明专利]一种提高热电阻温度计测量精度的方法

权利要求书

1.一种提高热电阻温度计测量精度的方法，其特征在于：包括以下步骤： 

步骤一、在一个热电阻温度计的测量范围内选取m个点作为温度校准基准点，其中第n个基准点的输出温度值为Y_n，n=1,2,3,…,m； 

步骤二、根据该热电阻温度计的数据表采集第n个温度校准基准点的电阻值R_n； 

步骤三、根据步骤二采集到的第n个温度校准基准点的电阻值R_n，进而通过下式获得第n个温度校准基准点对应的输入温度值X_n； 

R_n＝R₀(1+AX_n+BX_n²)； 

步骤四、所述m个温度校准基准点构成m-1个温度区间段，当热电阻温度计测量的温度值T_i处于第i个温度区间段时，根据步骤三得到的第i个温度区间段的增益A_i与偏置B_i； 

其中，i＝1,2,3,…,m-1；

步骤五、对热电阻温度计测量的温度值T_i进行校准修正，得到校准修正温度值T_i； 

T_i‘=A_iT_i+B_i。 

2.如权利要求1所述的提高热电阻温度计测量精度的方法，其特征在于：所述步骤三中，R₀=100Ω，当依据IEC6075标准时，A＝3.9083×10^-3℃^-1，B=-5.775×10^-7℃^-2；当依据DIN43760-1980标准时，A＝3.90802×10^-3℃^-1，B=--5.80201×10^-7℃^-2。