[发明专利]振荡器自动校准装置及其校准方法有效
申请号: | 201210526391.1 | 申请日: | 2012-12-07 |
公开(公告)号: | CN103873056B | 公开(公告)日: | 2016-11-23 |
发明(设计)人: | 郑晓;余振强;杨家奇;史丹宁 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H03L7/24 | 分类号: | H03L7/24 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 振荡器 自动 校准 装置 及其 方法 | ||
1.一种振荡器自动校准装置,包括:
振荡器单元,所述振荡器单元输出振荡信号,所述振荡信号具有参考状态和待校准状态;
检测单元,所述检测单元接收一比较信号和所述振荡信号,通过比较所述比较信号和所述振荡信号,得到一对比信号,并输出所述对比信号,当所述振荡信号为参考状态时,所述对比信号为参考状态,当所述振荡信号为待校准状态时,所述对比信号为待校准状态;
自动校准单元,当所述振荡信号为待校准状态时,所述自动校准单元接收所述对比信号,输出一校准控制字,所述振荡器单元接收所述校准控制字;
检索单元,当所述对比信号为参考状态时,所述检索单元接收所述校准控制字与所述对比信号,并建立一标准对比信号与校准控制字关系对照表;当所述对比信号为待校准状态时,所述检索单元接收所述对比信号,查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表,得到所述校准控制字,并输出所述校准控制字给所述振荡器单元,使所述振荡信号得到校准。
2.如权利要求1所述的振荡器自动校准方法,其特征在于,所述自动校准单元为一算数器。
3.如权利要求1所述的振荡器自动校准装置,其特征在于,所述振荡器单元为谐波振荡器或弛张振荡器。
4.如权利要求1所述的振荡器自动校准装置,其特征在于,所述比较信号的频率小于所述振荡信号的频率。
5.一种振荡器自动校准方法,包括:
提供一振荡器单元、一检测单元、一自动校准单元和一检索单元,所述振荡器单元与所述检测单元、所述自动校准单元和所述检索单元信号连接,所述检测单元与所述自动校准单元和所述检索单元信号连接,所述自动校准单元与所述检索单元信号连接,所述振荡器单元输出振荡信号,所述振荡信号具有参考状态和待校准状态;
控制所述振荡器单元分别输出若干参考状态的所述振荡信号;在每一参考状态的所述振荡信号下,所述检测单元输入所述振荡信号,同时所述检测单元输入一比较信号,所述检测单元通过比较所述比较信号和参考状态的所述振荡信号,得到一对比信号,此时,所述对比信号为参考状态,所述自动校准单元根据参考状态的所述对比信号,得到一校准控制字,所述控制字使参考状态的所述振荡信号得到校准,同时,所述自动校准单元将所述校准控制字输出给所述检索单元;
所述检索单元根据所有参考状态的所述对比信号和对应的所述校准控制字制得一标准对比信号与校准控制字关系对照表;
控制所述振荡器单元输出一待校准状态的所述振荡信号;所述检测单元输入所述振荡信号,同时所述检测单元输入所述比较信号,所述检测单元通过比较所述比较信号和待校准状态的所述振荡信号,得到所述对比信号,此时,所述对比信号为待校准状态,所述检索单元接收待校准状态的所述对比信号,所述检索单元查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表,得到所述校准控制字,并输出所述校准控制字给所述振荡器单元,使所述振荡信号得到校准。
6.如权利要求6所述的振荡器自动校准方法,其特征在于,所述自动校准单元为一算数器。
7.如权利要求6所述的振荡器自动校准方法,其特征在于,所述振荡器单元为谐波振荡器或弛张振荡器。
8.如权利要求6所述的振荡器自动校准方法,其特征在于,所述比较信号的频率小于所述振荡信号的频率。
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