[发明专利]OLED显示装置及感测像素驱动电路的特性参数的方法

说明书

本申请要求2011年12月26日提交的韩国专利申请No.10-2011-0142040的优先权，在此援引该专利申请作为参考，如同在这里完全阐述一样。

技术领域

本发明涉及一种有机发光二极管（OLED）显示装置，尤其涉及一种能够通过对特性参数的简单快速感测来修正亮度不均匀性的OLED显示装置及感测像素驱动电路的特性参数的方法。

背景技术

有源矩阵有机发光二极管（AMOLED）显示装置是有机发光层通过电子和空穴的再组合而发光的自发光装置。因为AMOLED显示装置表现出较高的亮度，并使用低驱动电压，同时具有超薄结构，所以AMOLED有望成为下一代显示装置。

这种AMOLED显示装置包括多个像素和用于独立驱动OLED的像素驱动电路，其中每个像素都包括由阳极、阴极和夹在阳极与阴极之间的有机发光层组成的有机发光二极管（OLED）。像素驱动电路主要包括开关薄膜晶体管（之后称作“TFT”）、电容器和驱动TFT。开关TFT响应于扫描脉冲利用对应于数据信号的电压向电容器充电。驱动TFT根据电容器中所充的电压的电平来控制提供给OLED的电流量，以调整从OLED发射的光量。从OLED发射的光量与从驱动TFT提供给OLED的电流量成正比。

然而，在这种AMOLED显示装置中，由于工艺容差，诸如驱动TFT阈值电压Vth和工艺容差因素（迁移率、寄生电容和沟道宽度/长度）这样的TFT特性在像素之间是不一致的。由于此原因，在AMOLED显示装置中会产生亮度的不均匀性。为解决此问题，使用数据补偿方法。根据该数据补偿方法，测量每个像素驱动电路中的驱动TFT的特性参数，并根据感测结果调整输入数据。

可通过感测在不同电压时流过相应像素的电流量来测量驱动TFT的特性。然而，对于尺寸增加的AMOLED显示装置来说，很难快速测量流过多个像素的电流量。例如，U.S.专利No.7,834,825公开了在逐个启动像素的同时感测流过OLED面板的电源线（VDD或VSS线）的电流量的方法。然而，该方法具有下述问题，即因为电流感测时间由于并行存在于电源线上的用于提高分辨率的寄生电容器而被延迟，所以很难获得快速的感测。

此外，在一般情形中，用于感测驱动TFT的特性的系统很复杂。由于此原因，在出货（shipment）之后，很难测量并补偿驱动TFT的特性。

发明内容

因此，本发明旨在提供一种基本上克服了由于现有技术的限制和缺点而导致的一个或多个问题的OLED显示装置及感测有机发光二极管显示装置中的像素驱动电路的特性参数的方法。

本发明的一个目的是提供一种能够通过对特性参数的简单快速感测来修正亮度不均匀性的OLED显示装置及感测像素驱动电路的特性参数的方法。

在下面的描述中将部分列出本发明的其它优点、目的和特点，部分优点、目的和特点从下面的描述对于所属领域普通技术人员来说是显而易见的，或者可从本发明的实施领会到。通过说明书、权利要求书以及附图中具体指出的结构可实现和获得本发明的这些目的和其他优点。

为了实现这些和其他优点，根据本发明的用途，如在此具体化和概括描述的，一种OLED显示装置包括：包括多个像素的显示面板，每个像素包括发光元件和用于独立驱动所述发光元件的像素驱动电路；和用于感测每个像素中的像素驱动电路的特性参数的特性参数检测单元，所述特性参数感测单元用于：驱动所述多个像素中的作为感测像素的一个像素的像素驱动电路；在与所述多个像素的各个像素驱动电路连接的数据线中，在与所述感测像素的像素驱动电路连接的数据线上，感测根据所述感测像素的像素驱动电路中的驱动薄膜晶体管（TFT）的特性而放电的电压；以及使用测量的电压来检测所述驱动薄膜晶体管的阈值电压（Vth）和所述驱动薄膜晶体管的工艺特性参数（k参数）的偏差。

所述特性参数感测单元可包括：数据驱动器，所述数据驱动器用于驱动所述数据线、感测所述数据线上的电压、并输出测量的电压；和时序控制器，所述时序控制器用于：根据来自所述数据驱动器的测量的电压，检测所述阈值电压（Vth）和k参数偏差；计算用于补偿所检测到的阈值电压（Vth）的偏移值和用于补偿所检测到的k参数偏差的增益值；存储计算的偏移值和计算的增益值；通过使用存储的偏移值和存储的增益值来补偿输入数据；并向所述数据驱动器提供补偿后的输入数据。

所述时序控制器可通过计算来自所述数据驱动器的测量的电压与提供给所述感测像素的像素驱动电路的基准电压之间的电压差，检测所述阈值电压（Vth）。