[发明专利]振动噪声校正用缺陷检查装置无效
申请号: | 201210538952.X | 申请日: | 2012-12-13 |
公开(公告)号: | CN103163146A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 朴宰贤;朴一成;尹永根 | 申请(专利权)人: | 东友精细化工有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 杨黎峰;李欣 |
地址: | 韩国全罗*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 振动 噪声 校正 缺陷 检查 装置 | ||
技术领域
本发明涉及缺陷检查技术,更详细而言,涉及能防止因振动噪声导致的误检并能提高缺陷检出能力的振动噪声校正用缺陷检查装置。
背景技术
缺陷检查系统是指,例如用照相机对印制电路板、偏振片、光学膜、相位差膜、离型膜等各种片状产品的外观进行拍摄,根据拍摄的图片对该产品是否有缺陷、灰尘、异物以及不均等不良情况进行检出的系统。
片状产品一般通过卷对卷(Roll-to-Roll)工序进行移动,但此时,因电机、片状产品所产生的张力、以及外部撞击等而有可能产生振动。在该情况下,由于振动噪声而在缺陷检查系统中产生误检。
例如在偏振片的情况下,在制造过程中因染料的不均匀染色或粘接不良等而沿偏振片的延伸方向有时会产生条状的不均,当用光学照相机对产生了不均的偏振片进行拍摄时,则在拍摄图片中产生了不均的部分会出现亮度偏差。
可是,即使在光学检查过程中产生振动噪声的情况下,在拍摄图片中也会出现亮度偏差。即、如图1所示,可以确认如下情况:当在偏振片的移动中产生振动噪声时,则在拍摄图片中产生振动噪声的部分会显示出亮度偏差。在此,M/D方向表示偏振片的移动方向。在该情况下,由于难以判断亮度偏差是因不均而产生的、或者是因振动噪声而产生的,因而存在产生误检的问题。因此,就需要有一种在检查过程中产生了振动噪声时,能够防止因振动噪声而导致误检的装置。
另一方面,在偏振片上产生如不均那样的缺陷的情况下,由于因不均导致的缺陷与其他种类的缺陷不同,其视觉辨认性较差,因而存在相对于单位面积(即、用照相机拍摄一次时的偏振片的面积)的检出能力下降的问题。但是,因不均导致的缺陷是造成事故的缺陷,由于其在偏振片的全部面积上连续产生,因而成为品质不良的较大问题。因此,就需要有一种能够早期检出因不均导致的缺陷、并采取措施的装置。
发明内容
本发明的目的在于提供一种振动噪声校正用缺陷检查装置,其能够降低因振动而导致的振动噪声,并能够提高因实际缺陷而导致的缺陷信号的识别性。
本发明的目的在于,提供一种即使对于视觉辨认性较差的不均缺陷,也能够提高缺陷检出能力的振动噪声校正用缺陷检查装置。
1.根据本发明一个实施方式的振动噪声校正用缺陷检查装置包括:图像获取部,其获取沿固定方向移送的片状产品的图像;以及图像扩展部,其将由所述图像获取部获取的图像沿所述片状产品的长度方向进行扩展。
2.在上述技术方案1中,所述图像扩展部将由所述图像获取部获取的图像分割成多个区域,然后将分割成的各区域的水平长度扩展至所述获取的图像的水平长度。
3.在上述技术方案2中,所述图像扩展部将所述获取的图像分割成多个区域,以使所述各区域的水平长度与振动噪声信号的水平长度相同。
4.在上述技术方案1中,所述振动噪声校正用缺陷检查装置还包括:图像重叠部,其用于重叠由所述图像扩展部进行扩展的图像;缺陷检出部,其用于从由所述图像重叠部进行重叠的图像中检出缺陷位置;以及监控部,其将由所述缺陷检出部检出的缺陷位置显示在画面上。
5.在上述技术方案4中,所述图像重叠部按所述扩展图像的各像素,对同一位置的像素亮度进行累积。
6.在上述技术方案4中,所述缺陷检出部在确认所述重叠图像的亮度拐点之后,在所述亮度拐点超过已设定的临界值时,检出该拐点所示的位置即缺陷位置。
7.根据本发明另一个实施方式的振动噪声校正用缺陷检查装置包括:将沿固定方向移送的片状产品的单位面积分割成多个区域并进行高速拍摄的图像获取部,所述图像获取部以所述片状产品图像的水平分辨率高于垂直分辨率的方式进行拍摄,并获取所述片状产品的图像。
8.在上述技术方案7中,所述图像获取部将所述片状产品分割成多个区域,以使所述各区域的长度与振动噪声信号的长度相同。
9.所述振动噪声校正用缺陷检查装置还包括:图像重叠部,其用于重叠由所述图像获取部获取的图像;缺陷检出部,其用于从由所述图像重叠部进行重叠的图像中检出缺陷位置;以及监控部,其将由所述缺陷检出部检出的缺陷位置显示在画面上。
10.在上述技术方案9中,所述图像重叠部按所述扩展图像的各像素,对同一位置的像素亮度进行累积。
11.在上述技术方案9中,所述缺陷检出部在确认所述重叠图像的亮度拐点之后,在所述亮度拐点超过已设定的临界值时,检出该拐点所示的位置即缺陷位置。
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