[发明专利]一种中红外发光晶体材料、及其制备方法与应用有效
申请号: | 201210541788.8 | 申请日: | 2012-12-14 |
公开(公告)号: | CN103014864A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 徐军;蒋先涛;苏良碧;唐慧丽;范晓 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | C30B29/32 | 分类号: | C30B29/32;C30B11/00;C30B15/00;H01S3/16 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 刘懿 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 红外 发光 晶体 材料 及其 制备 方法 应用 | ||
1.一种中红外发光晶体材料,其特征在于,所述晶体材料为Bi4Ge3O12晶体材料,所述Bi4Ge3O12晶体材料由Bi2O3和GeO2 制成。
2.一种制备权利要求1所述的中红外发光晶体材料的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,按照化学式Bi4Ge3O12的比例,提供Bi2O3和GeO2,制备混合粉料;
步骤2,将步骤1中得到的混合粉料熔融,然后结晶制备Bi4Ge3O12晶体。
3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述步骤1为:按照化学式Bi4Ge3O12的比例,提供Bi2O3和GeO2,将Bi2O3和GeO2混合后压制成块,再烧结,最后研磨制成粉料。
4.根据权利要求3所述的制备方法,其特征在于,所述烧结是把压制成块的Bi2O3和GeO2混合物烧结5~20小时,烧结温度为500~800℃。
5.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述步骤2中制备Bi4Ge3O12晶体采用坩埚下降法、提拉法或温度梯度法。
6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述坩埚下降法的工艺条件为:化料温度为1050~1100℃,晶体生长区域的温度梯度为20~40℃/cm,晶体生长时坩埚下降速度为1~4mm/h。
7.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述提拉法的工艺条件为:提拉速度为1~4mm/h,转速为18~28 r/min。
8.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述温度梯度法的工艺条件为:化料温度为1050~1100℃,晶体生长区域的温度梯度为20~40℃/cm,晶体生长时温度下降速度为1~5℃/h。
9.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,还包括切割抛光处理的后处理步骤。
10.一种权利要求1所述中红外发光晶体材料在激光二极管泵浦中的应用。
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