[发明专利]一种中红外发光晶体材料、及其制备方法与应用有效

专利信息
申请号: 201210541788.8 申请日: 2012-12-14
公开(公告)号: CN103014864A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 徐军;蒋先涛;苏良碧;唐慧丽;范晓 申请(专利权)人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
主分类号: C30B29/32 分类号: C30B29/32;C30B11/00;C30B15/00;H01S3/16
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 刘懿
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 红外 发光 晶体 材料 及其 制备 方法 应用
【权利要求书】:

1.一种中红外发光晶体材料,其特征在于,所述晶体材料为Bi4Ge3O12晶体材料,所述Bi4Ge3O12晶体材料由Bi2O3和GeO2 制成。

2.一种制备权利要求1所述的中红外发光晶体材料的方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,按照化学式Bi4Ge3O12的比例,提供Bi2O3和GeO2,制备混合粉料;

步骤2,将步骤1中得到的混合粉料熔融,然后结晶制备Bi4Ge3O12晶体。

3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述步骤1为:按照化学式Bi4Ge3O12的比例,提供Bi2O3和GeO2,将Bi2O3和GeO2混合后压制成块,再烧结,最后研磨制成粉料。

4.根据权利要求3所述的制备方法,其特征在于,所述烧结是把压制成块的Bi2O3和GeO2混合物烧结5~20小时,烧结温度为500~800℃。

5.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述步骤2中制备Bi4Ge3O12晶体采用坩埚下降法、提拉法或温度梯度法。

6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述坩埚下降法的工艺条件为:化料温度为1050~1100℃,晶体生长区域的温度梯度为20~40℃/cm,晶体生长时坩埚下降速度为1~4mm/h。

7.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述提拉法的工艺条件为:提拉速度为1~4mm/h,转速为18~28 r/min。

8.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述温度梯度法的工艺条件为:化料温度为1050~1100℃,晶体生长区域的温度梯度为20~40℃/cm,晶体生长时温度下降速度为1~5℃/h。

9.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,还包括切割抛光处理的后处理步骤。

10.一种权利要求1所述中红外发光晶体材料在激光二极管泵浦中的应用。

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