[发明专利]基于降维和增量式极限学习机的光刻线宽智能预测方法有效

专利信息
申请号: 201210543771.6 申请日: 2012-12-17
公开(公告)号: CN103106331A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 刘民;郝井华;郭路;吴澄;王凌;张亚斌;刘涛 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 楼艮基
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 维和 增量 极限 学习机 光刻 智能 预测 方法
【权利要求书】:

1.基于降维和增量式极限学习机的光刻线宽智能预测方法,其特征在于,所述方法是在计算机上依次按以下步骤实现的:

步骤(1):模型选择与参数初始化

对于给定的N个样本,其输入记为其中xi表示每i个样本,由29维数据组成的向量,该向量包括如下参数:与待预测lot处于相同加工层次、相同品种的前5个lot对应的曝光剂量、光刻机焦距、曝光剂量的质量控制值、线宽测量值以及光刻胶厚度;当前待预测lot的曝光剂量、光刻机焦距、曝光剂量的质量控制值和光刻胶厚度;N个样本输入相对应的输出记为yi为光刻线宽测量值;

给定基于结构风险最小化的极限学习机的隐层节点数L,采用径向基函数作为特征变换函数,函数形式为G(ai,bi,xi)=e-bi(||xi-ai||),i=1,2,···,L,]]>其中ai,bi为径向基函数的参数,ai维数为29维,其可从[-1 1]中随机选取,bi为1维,取值为从110013300]]>随机选取;

于是,生成的极限学习机特征映射矩阵H(X)为:

H(X)=G(a1,b1,x1)G(a2,b2,x1)···G(aL,bL,x1)G(a1,b1,x2)G(a2,b2,x2)···G(aL,bL,x2)············G(a1,b1,xN)G(a2,b2,xN)···G(aL,bL,xN)]]>

步骤(2):算法初始化

对于时刻t而言,增量式极限学习机的权值参数Wt初始化值为:

Wt=[1v+H(Xt)TH(Xt)]-1H(Xt)TYt]]>

其中:

Xt表示t时刻已经获得的样本,样本数量为N,于是产生的极限学习机映射矩阵为:

H(Xt)=G(a1,b1,x1)G(a2,b2,x1)···G(aL,bL,x1)G(a1,b1,x2)G(a2,b2,x2)···G(aL,bL,x2)············G(a1,b1,xN)G(a2,b2,xN)···G(aL,bL,xN)]]>

Yt=y1y2···yN]]>

v为折中系数,采用经验值,取为2-15

步骤(3):在线学习过程

对于t+1时刻,假定新到达样本的数量为k个,新到达样本对应的输入为输出为YIC=yN+1yN+2···yN+k,]]>于是由新到达的样本数据形成的极限学习机映射矩阵为:

H(XIC)=G(a1,b1,xN+1)G(a2,b2,xN+1)···G(aL,bL,xN+1)G(a1,b1,xN+2)G(a2,b2,xN+2)···G(aL,bL,xN+2)············G(a1,b1,xN+k)G(a2,b2,xN+k)···G(aL,bL,xN+k)]]>

t+1时刻极限学习机权值参数Wt+1按照如下方式更新:

Wt+1=KtWt+KtAt-1H(XIC)TYIC

其中:

Kt=I-At-1H(XIC)T[H(XIC)At-1H(XIC)T+Ik×k]-1H(XIC)

At-1=[1v+H(Xt)TH(Xt)]-1]]>

At+1-1=KtAt-1

Ik×k为对角线为1的单位矩阵;

Kt、At-1为引入的中间变量,从而简化更新后权值参数Wt+1的表达形式;

步骤(4):训练过程终止

当所有的训练数据都参与训练后,训练过程终止,此时输出训练完成后的极限学习机权值参数W;

步骤(5):在线应用

假定需要进行光刻线宽预测的测试样本数量为Ntest,训练获得的极限学习机模型参数W,按照下式进行光刻线宽的智能预测:

Y^test=H(Xtest)W]]>

其中Xtest为待预测的样本对应的输入,为光刻区线宽的预测值,H(Xtest)表达形式如下所示:

H(Xtest)=G(a1,b1,x1)G(a2,b2,x1)···G(aL,bL,x1)G(a1,b1,x2)G(a2,b2,x2)···G(aL,bL,x2)············G(a1,b1,xNtest)G(a2,b2,xNtest)···G(aL,bL,xNtest).]]>

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