[发明专利]毫米波样品检测方法和系统有效

专利信息
申请号: 201210544315.3 申请日: 2012-12-14
公开(公告)号: CN103033522A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 金雷;时华峰;汪震 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 吴平
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 毫米波 样品 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种毫米波样品检测系统,其特征在于,包括毫米波信号收发模块、二维平移台及控制模块;

所述毫米波信号收发模块用于生成并发送样品扫描成像所需要的毫米波信号,接收并处理样品反射回来的毫米波信号;

所述二维平移台用于安装并带动样品台向与所述毫米波信号收发模块成正交的二维方向移动;

所述控制模块分别与所述毫米波信号收发模块和所述二维平移台连接,所述控制模块用于设置所述二维平移台的移动方向参数及距离参数,所述二维平移台按照所述控制模块设置的移动方向参数及距离参数带动所述样品台移动;所述控制模块读取所述毫米波信号收发模块接收的毫米波信号,将读取的毫米波信号转换成样品图像。

2.根据权利要求1所述的毫米波样品检测系统,其特征在于,所述毫米波信号收发模块包括数据采集单元和数据处理单元,所述数据采集单元用于采集毫米波信号,所述数据处理单元用于将模拟信号转换成数字并对转换后的数字信号进行处理及发送给所述控制模块。

3.根据权利要求1所述的毫米波样品检测系统,其特征在于,所述二维平移台包括底座、分别沿X轴和Y轴方向移动的滑块、导轨、伺服电机,所述底座用于安装所述分别沿正交方向移动的导轨,所述滑块安装于所述导轨上,所述伺服电机用于驱动所述滑块在所述导轨上移动。

4.根据权利要求1所述的毫米波样品检测系统,其特征在于,还包括样品台支架,所述样品台支架用于将样品台固定于所述二维平移台上,所述样品台支架为“厂”形。

5.根据权利要求1所述的毫米波样品检测系统,其特征在于,所述样品台的材料为低反射毫米波的材料或增加吸收毫米波的材料。

6.根据权利要求1所述的毫米波样品检测系统,其特征在于,还包括驱动模块,所述控制模块将设置的所述二维平移台的移动方向参数及距离参数发送给所述驱动模块,所述驱动模块根据接收的所述移动方向参数及距离参数驱动所述二维平移台的移动。

7.根据权利要求1所述的毫米波样品检测系统,其特征在于,还包括二维平移台控制模块,所述二维平移台控制模块用于精确控制所述二维平移台的移动路径。

8.一种毫米波样品检测方法,包括以下步骤:

样品台向与毫米波信号收发模块成正交的二维方向移动;

向置于所述样品台上的样品发送毫米波信号,并接收从样品反射回来的毫米波信号;

读取所述样品反射回来的毫米波信号并将读取的毫米波信号转换成样品图像;

将所述样品图像与对比样品图像进行比较。

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