[发明专利]一种氮化锌薄膜的制备方法有效
申请号: | 201210545142.7 | 申请日: | 2012-12-14 |
公开(公告)号: | CN103866263A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 解婧;李超波;夏洋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | C23C16/34 | 分类号: | C23C16/34 |
代理公司: | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘丽君 |
地址: | 100029 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氮化 薄膜 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及原子层沉积薄膜技术领域,具体涉及一种氮化锌薄膜的制备方法。
背景技术
氮化锌(Zn3N2)具有反方铁锰矿结构,具有奇异的电学及光学性质,并且氧化锌是间接带隙还是直接带隙半导体,带隙是多少,一直是产业界及学术界具有较大争议的问题,制备方法和生长条件的差异,对其带隙的影响也十分显著。例如现有技术中,利用磁控溅射、化学气相沉积、静电电解法、分子束外延法等方法可以进行氮化锌薄膜的制备。但多数方法制备的氮化锌薄膜稳定性较差,而且同一种方法制备的氧化锌薄膜,获得的材料光学、电学性能差异也较大。现急需获得高结晶质量、简单易行、可重复控制的制备方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种氮化锌薄膜的制备方法,所述制备方法是利用原子层沉积技术制备氮化锌薄膜,可精确调控氮化锌薄膜的带隙,所制备出的薄膜结构均匀完整,性能显著。
为了达到上述目的,本发明采用的技术方案为:
一种氮化锌薄膜的制备方法,包括如下步骤:
(1)将衬底放置于原子层沉积设备反应腔中;
(2)向所述原子层沉积设备反应腔中通入含锌前驱体源,所述含锌前驱体源中的锌原子吸附于所述衬底表面;
(3)向所述原子层沉积设备反应腔中通入含氮前驱体源,然后通过等离子体将所述含氮前驱体源电离,电离后所述含氮前驱体源中的氮原子部分沉积,与所述衬底表面的锌原子形成氮锌共价键;或,通过等离子体将含氮前驱体源电离,然后将电离的所述含氮前驱体源通入所述原子层沉积设备反应腔中,电离后所述含氮前驱体源中的氮原子部分沉积,与所述衬底表面的锌原子形成氮锌共价键;
(4)重复所述步骤(2)和步骤(3)即可逐层生长氮化锌薄膜。
上述方案中,所述步骤(1)之前还包括步骤:所述衬底的表面经过处理,所述衬底处理后的表面吸附有羟基。
上述方案中,所述步骤(1)中将衬底放置于原子层沉积设备反应腔中可通过手动放置、机械手放置或软件控制机械手放置。
上述方案中,所述步骤(2)中的含锌前驱体源为二甲基锌、二乙基锌或醋酸丙酮锌。
上述方案中,所述步骤(3)中的含氮前驱体源为氮气、一氧化氮、二氧化氮、氨气。
上述方案中,所述步骤(3)中所述等离子体电离所述含氮前驱体源的放电功率为10W~100W,放电时间为1s~5s。
上述方案中,所述步骤(2)还包括:所述含锌前驱体源中的锌原子吸附于所述衬底表面后,吹扫所述原子层沉积设备反应腔,使所述原子层沉积设备反应腔恢复本底真空,所述本底真空的范围是0.0001Torr~0.1Torr。
上述方案中,所述步骤(3)还包括:形成氮锌共价键后,吹扫所述原子层沉积设备反应腔,使所述原子层沉积设备反应腔恢复本底真空,所述本底真空的范围是0.0001Torr~0.1Torr。
上述方案中,所述步骤(3)还包括:所述原子层沉积设备反应腔恢复本底真空后,调整所述衬底上沉积物表面反应活性。
与现有技术方案相比,本发明采用的技术方案产生的有益效果如下:
本发明是一种简单易行,可获得高结晶质量、可重复的制备方法,通过等离子体将氮源引入原子层沉积系统,再通过调控腔室温度、真空度、循环周期、等离子体条件等条件,精确的调控所制备的氮化锌薄膜的带隙。本发明可根据不同电学、光学应用需求,获得带隙可调控的各种优质氮化锌薄膜。
附图说明
图1为本发明提供的氮化锌薄膜制备方法一实施例的工艺流程图;
图2为本发明提供的氮化锌薄膜制备方法另一实施例的工艺流程图;
图3为利用本发明制备的氮化锌薄膜光电子能谱仪(XPS)测试图表。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明技术方案进行详细描述。
实施例1:
如图1所示,本实施例提供一种氮化锌薄膜的制备方法,具体包括如下步骤:
步骤101,对衬底的表面进行标准溶液清洗处理,其中标准溶液包含硫酸、双氧水等氧化溶剂,衬底经过处理后的表面吸附有羟基;
步骤102,将衬底放置于原子层沉积设备反应腔中,可通过手动放置、机械手放置或软件控制机械手放置;
步骤103,向原子层沉积设备反应腔中通入含锌前驱体源,含锌前驱体源与衬底表面的羟基发生反应,含锌前驱体源中的锌原子吸附于衬底表面;含锌前驱体源为二甲基锌、二乙基锌或醋酸丙酮锌等;
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