[发明专利]电容式触摸屏的侦测小面积接触或接近的方法及其装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种电容式触摸屏的侦测小面积接触或接近的方法及其装置，特别是涉及一种能侦测到细笔头电容笔的电容式触摸屏的侦测小面积接触或接近的方法及其装置。

背景技术

现有习知的互电容式传感器(mutual capacitive sensor)，包括绝缘表层、第一导电层、介电层、第二导电层、其中第一导电层与第二导电层分别具有多条第一导电条与第二导电条，这些导电条可以是由多个导电片与串联导电片的连接线构成。

在进行互电容式侦测时，第一导电层与第二导电层之一被驱动，并且第一导电层与第二导电层之另一被侦测。例如，驱动信号逐一被提供给每一条第一导电条，并且相应于每一条被提供驱动信号的第一导电条，侦测所有的第二导电条的信号来代表被提供驱动信号的第一导电条与所有第二导电条间交会处的电容性耦合信号。借此，可取得代表所有第一导电条与第二导电条间交会处的电容性耦合信号，成为一电容值影像。

据此，可以取得在未被触碰时的电容值影像作为基准，借由比对基准与后续侦测到的电容值影像间的差异，来判断出是否被外部导电物件接近或覆盖，并且更进一步地判断出被接近或覆盖的位置。

然而，基准与后续侦测到的电容值影像间的差异明不明显与外部导电物件接近或覆盖触摸屏的面积相关，因此需要足够大的面积才能被辨识出来。这样的限制使得被动式电容笔的笔头必需很粗大，直径约在4mm以上，造成书写时不容易看见笔尖，不易精确地书写在预期的位置上。

由此可见，上述现有技术显然存在有不便与缺陷，而极待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的技术，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。

发明内容

当触摸屏受小面积的接近或接触时，相应于接近或接触信号可能略小于用于侦测的门坎限值。本发明的目的是借由相应于接近或接触信号与相邻信号的总和来与门坎限值比较，可判断出原本门坎限值无法判断的小面积的接近或接触。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的电容式触摸屏的侦测小面积接触或接近的方法，其包括：由电容式触模屏取得电容性耦合变化量影像，其中电容式触摸屏具有多条被提供驱动信号的被驱动导电条与多条提供电容性耦合变化量的被侦测导电条，在每次驱动信号被提供时，被同时提供驱动信号的一条或多条被驱动导电条与每一条被侦测导电条的一个或多个交会处产生电容性耦合，电容性耦合变化量影像的每一个值分别为所述交会处之一的电容性耦合变化量；由电容性耦合变化量影像侦测每一个被侦测交会处，其中被侦测交会处的值小于第一门槛限值与大于第二门槛限值；侦测每一个第一区域，每一个第一区域包含所述被侦测交会处之一与相邻于被侦测交会处的相邻交会处，并且第一区域的值的总和大于第一门槛限值；当没有侦测到任何第一区域时，侦测每一个第二区域，每一个第二区域包含所述被侦测交会处之一在内的四个相邻的交会处，并且第二区域的值的总和大于第一门槛限值；以及当侦测到至少一个第一区域或至少一个第二区域时，判断出每一个外部导电物件接近或接触的第一区域或第二区域，其中与外部导电物件接近或接触的第一区域或第二区域相邻的所有交会处的值小于第三门槛限值。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的电容式触摸屏的侦测小面积接触或接近的方法，其中第一门槛限值>第二门槛限值>第三门槛限值。

前述的电容式触摸屏的侦测小面积接触或接近的方法，其中第二门槛限值为第一门槛限值的1/2，并且第三门槛限值为第一门槛限值的1/4。

前述的电容式触摸屏的侦测小面积接触或接近的方法，其中外部导电物件与触摸屏接触的最大宽度小于两平行排列且相邻的导电条的中央间的距离，两平行排列且相邻的导电条为所述的被驱动导电条或被侦测导电条。

前述的电容式触摸屏的侦测小面积接触或接近的方法，其中每一个判断出的外部导电物件接近或接触的第一区域或第二区域分别为一笔接近或接触的第一区域或第二区域，其中笔与触摸屏接触的最大宽度小于或等于3mm。