[发明专利]温度补偿方法及晶体振荡器

权利要求书

1.一种晶体振荡器，其特征在于，包括：晶体振荡电路单元、温度传感器单元、振荡控制单元、相对温度计算单元和温度补偿单元，

所述温度传感器单元，用于测量所述晶体振荡电路单元的测量温度；

所述相对温度计算单元，用于获取所述测量温度与基准温度的温度差值，所述基准温度为所述晶体振荡电路单元在常温下的测量值；

温度补偿单元，用于从温度频率曲线中获取所述温度差值对应的温度补偿值；

所述振荡控制单元，用于根据通信自适应频率控制AFC装置跟踪的频率和所述温度补偿值，生成频率控制信号，并用所述频率控制信号控制所述晶体振荡电路单元的振荡频率工作在所述通信AFC装置跟踪的频率上。

2.如权利要求1所述的晶体振荡器，其特征在于，

所述振荡控制单元具体用于根据所述AFC装置跟踪的频率和所述温度补偿值对应的频率确定AFC控制值，并根据所述AFC控制值与所述温度补偿值生成所述频率控制信号。

3.如权利要求1或2所述的晶体振荡器，其特征在于，还包括：

样本获取单元，用于当所述晶体振荡电路单元的振荡频率，稳定工作在所述通信AFC装置跟踪的频率上时，则采集所述测量温度或所述温度差值作为样本的温度参数，采集所述频率控制信号或所述通信AFC装置跟踪的频率作为所述样本的频率参数；

校准单元，用于根据所述样本获取单元多次采集的样本，校准所述温度频率曲线的系数。

4.如权利要求3所述的晶体振荡器，其特征在于，包括：

所述校准单元通过最小二乘法对所述样本获取单元多次采集的样本进行拟合，以校准所述温度频率曲线的系数。

5.一种温度补偿方法，其特征在于，包括：

通过温度传感器测量晶体振荡电路的测量温度；

获取所述测量温度与基准温度的温度差值，所述基准温度为所述晶体振荡电路在常温下的测量值；

从温度频率曲线中获取所述温度差值对应的温度补偿值；

根据通信自适应频率控制AFC装置跟踪的频率和所述温度补偿值，生成频率控制信号，并用所述频率控制信号用于控制晶体振荡电路的振荡频率工作在所述通信AFC装置跟踪的频率上。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据通信自适应频率控制AFC装置跟踪的频率和所述温度补偿值，生成频率控制信号包括：

根据所述AFC装置跟踪的频率和所述温度补偿值对应的频率确定AFC控制值；

根据所述AFC控制值与所述温度补偿值生成所述频率控制信号。

7.如权利要求5或6所述的方法，其特征在于，还包括：

如果所述晶体振荡电路的振荡频率稳定工作在所述通信AFC装置跟踪的频率上，则采集所述测量温度或所述温度差值作为样本的温度参数，采集所述频率控制信号或所述AFC装置跟踪的频率作为所述样本的频率参数；

根据多次采集的样本，校准所述温度频率曲线的系数。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据多次采集的样本校准温度频率曲线的系数包括：

通过最小二乘法对所述样本获取单元多次采集的样本进行拟合，以校准所述温度频率曲线的系数。