[发明专利]一种具有定位功能的紫外分光光度计

说明书

本发明公开了一种具有定位功能的紫外分光光度计，包括样品池和光源室，紫外分光光度计的上盖组件包括样品池上盖、样品池托以及面板，所述样品池上盖一端的两侧分别具有转轴，所述面板的对应的一端的两侧分别具有用于容纳所述转轴的轴套，所述样品池上盖与所述面板通过所述转轴和所述轴套活动连接；每个所述转轴上具有突起，每个所述轴套上具有凹槽，在开启所述样品池上盖的过程中，所述凹槽通过限定所述突起的移动区域来限定所述样品池上盖开启的角度。通过本发明的技术方案，保证了样品池上盖在开启后可以停留在指定位置又节省了样品池空间从而整体上减小了紫外分光光度计的体积。

技术领域

本发明涉及紫外分光光度计的结构。更具体地，本发明涉及一种具有定位功能的紫外分光光度计。

背景技术

紫外可见分光光度计（简称紫外分光光度计或分光光度计）是利用物质的分子或离子对某一波长范围的光的吸收作用，对物质进行定性分析、定量分析及结构分析的仪器。分光光度计包括样品池和光源室。分光光度计在对样品测试时，要求内部光路结构是密闭的，不能有杂光进入。样品池部分是用来放置样品与参比的部分，此部分需要经常开启与关闭，并且不能漏光。分光光度计的上盖组件包括样品池上盖、样品池托以及面板，样品池托在样品池的前部。

目前的一种分光光度计的样品池上盖如图1所示，由两部分组成，即分为第一上盖100和第二上盖200，第一上盖100和第二上盖200可以沿X方向在与面板的上视基准面平行的面上前后运动，实现样品池的开与关。但缺点是占用空间大，使得机器的尺寸偏大，使用和运输时不方便。

另一种分光光度计是通过样品池上盖与面板之间通过转轴活动连接，开启样品池时，将样品池上盖直接翻起，与面板形成一个钝角，并停留在极限位置。缺点在于样品池上盖没有额外的限位作用。

中国专利号200510028746.4的一种影像扫描装置的上盖掀合机构，公开了一种通过枢轴连接的上盖组件，包括第一限位装置和第二限位装置，并提供了第一限位装置的两个实施例，第一实施例是：第一限位装置包括爪状片和限位凸出部分，通过爪状片勾住限位凸出部分形成干涉；第二种实施例是：第一限位装置包括轴体和轴座，通过轴体与轴座偏心相容形成干涉。另外，公开了第二限位装置的结构为设置在第二盖部分底面的凸块。该专利技术方案中各个限位装置的设计复杂，占用空间大，无法实现封光。

发明内容

本发明目的在于提供一种具有定位功能的紫外分光光度计，解决分光光度计中样品池上盖占用空间大且无法定位的问题。

本发明的技术方案如下：

一种具有定位功能的紫外分光光度计，包括样品池和光源室，该紫外分光光度计的上盖组件包括样品池上盖、样品池托以及面板，所述样品池上盖一端的两侧分别具有转轴，所述面板的对应的一端的两侧分别具有用于容纳所述转轴的轴套，所述样品池上盖与所述面板通过所述转轴和所述轴套活动连接；

每个所述转轴上具有突起，每个所述轴套上具有凹槽，在开启所述样品池上盖的过程中，所述凹槽通过限定所述突起的移动区域来限定所述样品池上盖开启的角度。

进一步地，所述凹槽包括第一定位槽和第二定位槽；

所述轴套还包括轴套筋体，所述轴套筋体在所述第一定位槽和第二定位槽之间，并将所述第一定位槽和第二定位槽分开；

所述样品池上盖关闭时，所述突起位于所述第一定位槽内；

所述样品池上盖开启过程中，所述突起沿所述第一定位槽移动，在越过所述轴套筋体后，所述突起停留在所述第二定位槽内，使所述样品池上盖与所述面板的上视基准面呈固定角度。

进一步地，所述第一定位槽在靠近所述样品池托的位置；

所述第一定位槽的使用角度为0度至115度，所述第二定位槽的使用角度为115度至159度；

所述轴套筋体在115度的位置；