[发明专利]用于表征光纤的光学性质的方法

权利要求书

1.一种用于确定光纤的一个或多个光学性质的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

i)提供光学性质的值具有预期变化的多个光纤，

ii)测量所述多个光纤的所述光学性质的值，

iii)选择所述多个光纤其中之一作为参考光纤，

iv)确定所述多个光纤相对于所述参考光纤的相对背向散射系数，

v)使步骤ii)中所获得的数据与步骤iv)中所获得的数据相关联，以获得表示所述多个光纤的相对背向散射系数和所述光学性质的值之间的相关性的校准曲线，

vi)测量其它光纤相对于所述参考光纤的相对背向散射系数，以及

vii)基于步骤v)中所获得的校准曲线来确定所述其它光纤的所述光学性质的值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，针对多个光纤重复步骤vi)和步骤vii)。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，从数值孔径、延迟时间、宏弯曲引起的衰减或者它们的组合中选择所述光学性质。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述光学性质是数值孔径，以及使用步骤vii)中所获得的数值孔径的值来计算延迟时间和/或宏弯曲引起的衰减。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，使用所述延迟时间来计算一组多模光纤的延迟失真。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，通过使用基于光学时域反射仪的方法来执行步骤iv)和步骤vi)。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于光学时域反射仪的方法包括根据针对参考多模光纤和被测多模光纤之间的拼接或耦合损耗的双向测量来确定所述相对背向散射系数。

8.一种根据权利要求1或2所述的方法利用基于光学时域反射仪的方法测量光纤的相对背向散射系数来确定数值孔径的方法。

9.一种根据权利要求1或2所述的方法利用基于光学时域反射仪的方法测量光纤的相对背向散射系数来确定宏弯曲引起的衰减的方法。

10.一种根据权利要求1或2所述的方法利用基于光学时域反射仪的方法测量光纤的相对背向散射系数来确定时间延迟的方法。

11.一种根据权利要求1或2所述的方法利用基于光学时域反射仪的方法测量一组光纤的相对背向散射系数来确定延迟失真的方法。