[发明专利]一种非接触式供电设备和一种非接触式供电方法

权利要求书

1.一种非接触式供电设备，其特征在于，所述非接触式供电设备包括：存储器、主控制器、检测线圈阵列和初级线圈阵列；存储器与主控制器相连；主控制器与检测线圈阵列相连，并且主控制器通过电子开关控制初级线圈阵列中的一个或多个初级线圈的选通；

检测线圈阵列中的每个线圈用于接收主控制器的激励信号，并感应受电设备的次级线圈反馈的能量；

存储器，用于存储初级线圈阵列中的各线圈的位置坐标与检测线圈阵列中的各线圈的位置坐标之间的对应关系；

主控制器，用于向检测线圈阵列中每一个线圈施加激励信号，并检测检测线圈阵列中的每一个线圈感应的能量，确定受电设备的次级线圈的位置，受电设备的次级线圈的位置表示为检测线圈阵列中的一个或多个线圈的位置坐标；

所述主控制器从存储器中读取与所述一个或多个线圈的位置坐标所对应的初级线圈阵列中的一个或多个线圈的位置坐标，并选通相应的一个或多个初级线圈；

初级线圈阵列中的一个或多个初级线圈在被选通后向受电设备供电。

2.根据权利要求1所述的非接触式供电设备，其特征在于，所述非接触式供电设备包括上壳，所述检测线圈阵列紧靠所述非接触式供电设备的上壳，初级线圈阵列位于检测线圈阵列的下方。

3.根据权利要求1所述的非接触式供电设备，其特征在于，所述非接触式供电设备还包括屏蔽材料，该屏蔽材料位于所述初级线圈阵列的下方。

4.根据权利要求1所述的非接触式供电设备，其特征在于，所述非接触式供电设备还包括检波电路；该检波电路连接于检测线圈阵列于主控制器之间；

检波电路用于放大检测线圈阵列中每个线圈所感应的反馈能量；

主控制器对检波电路放大的能量进行采样比较，确定受电设备的次级线圈的位置。

5.根据权利要求1所述的非接触式供电设备，其特征在于，所述检测线圈阵列由软式印刷电路板实现或由硬式印刷电路板实现；

所述初级线圈阵列由软式印刷电路板、硬式印刷电路板或绕线线圈组实现。

6.一种非接触式供电方法，其特征在于，该非接触式供电方法包括：

向检测线圈阵列中每一个线圈施加激励信号；其中，检测线圈阵列中的每个线圈接收激励信号，并感应受电设备的次级线圈反馈的能量；

检测检测线圈阵列中的每一个线圈感应的能量，确定受电设备的次级线圈的位置；其中，受电设备的次级线圈的位置表示为检测线圈阵列中的一个或多个线圈的位置坐标；

根据预先保存的初级线圈阵列中的各线圈的位置坐标与检测线圈阵列中的各线圈的位置坐标之间的对应关系，确定与所述检测线圈阵列中的一个或多个线圈的位置坐标对应的初级线圈阵列中的一个或多个线圈的位置坐标；

根据所确定的初级线圈阵列中的一个或多个线圈的位置坐标，选通相应的一个或多个初级线圈为受电设备供电。

7.根据权利要求6所述的非接触式供电方法，其特征在于，该方法还包括：

将检测线圈阵列设置在紧靠非接触式供电设备的上壳的位置，将初级线圈阵列设置在检测线圈阵列的下方位置。

8.根据权利要求6所述的非接触式供电方法，其特征在于，该方法还包括：

在非接触式供电设备的所述初级线圈阵列的下方设置屏蔽材料。

9.根据权利要求6所述的非接触式供电方法，其特征在于，该方法还包括：

对检测线圈阵列中的每个线圈所感应的反馈能量进行放大，对放大的能量进行采样比较，确定受电设备的次级线圈的位置。

10.根据权利要求6所述的非接触式供电方法，其特征在于，

所述检测线圈阵列由软式印刷电路板实现或由硬式印刷电路板实现；

所述初级线圈阵列由软式印刷电路板、硬式印刷电路板或绕线线圈组实现。