[发明专利]一种Al‑Ga复合扩散掺杂方法有效
申请号: | 201210554051.X | 申请日: | 2012-12-19 |
公开(公告)号: | CN103887153B | 公开(公告)日: | 2017-11-21 |
发明(设计)人: | 杨宁;张桥;周霖;楚奇 | 申请(专利权)人: | 湖北台基半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/22 | 分类号: | H01L21/22;H01L21/228 |
代理公司: | 襄阳嘉琛知识产权事务所42217 | 代理人: | 严崇姚 |
地址: | 441021 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 al ga 复合 扩散 掺杂 方法 | ||
1.一种Al-Ga复合扩散掺杂方法,其特征在于包括以下工艺步骤:
⑴在第一源盒中装入铝杂质源,在第二源盒中装入镓杂质源,再按顺序分别装入源盒、档片、硅片、陪片,最后将封管放入真空扩散炉中;
⑵先将真空扩散炉抽真空,再升温至铝杂质源预沉积扩散温度范围800~1100℃,并进行铝杂质源预沉积恒温扩散,时间为40~200分钟;
⑶之后再将真空扩散炉升温至镓杂质源扩散温度范围,并同时进行镓杂质源、预沉积铝杂质再分布双杂质恒温扩散;
⑷最后降温出炉。
2.根据权利要求1所述的一种Al-Ga复合扩散掺杂方法,其特征在于:所述第⑴工艺步骤中铝杂质源预沉积在筒形舟内壁。
3.根据权利要求1或2所述的一种Al-Ga复合扩散掺杂方法,其特征在于:所述第⑴工艺步骤中镓杂质源为硅镓粉、锗镓合金或砷化镓。
4.根据权利要求1或2所述的一种Al-Ga复合扩散掺杂方法,其特征在于:所述第⑶工艺步骤中镓杂质源扩散温度为1240~1280℃,镓杂质源、预沉积铝杂质再分布双杂质恒温扩散时间为400~2000分钟。
5.根据权利要求1、2或3所述的一种Al-Ga复合扩散掺杂方法,其特征在于:所述第⑴工艺步骤中铝杂质源为纯度大于等于99.999%的高纯铝,所述的镓杂质源的纯度大于等于 99.9999% 高纯镓杂质源。
6.根据权利要求1或2所述的一种Al-Ga复合扩散掺杂方法,其特征在于:所述第⑵工艺步骤中将真空扩散炉抽真空至真空度达到或高于5×104pa,升温速率为10~15℃/每分钟;所述第⑶工艺步骤中升温速率为5~10℃/每分钟;所述第⑷工艺步骤中降温速率1~3℃/每分钟,降至700℃以后自然降温。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湖北台基半导体股份有限公司,未经湖北台基半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210554051.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造