[发明专利]一种绝缘子憎水性检测方法

权利要求书

1.一种绝缘子憎水性检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S100，对原始绝缘子进行拍照得到图像p，将图像p灰度化为图像P并进行存储，在同一角度，对喷水后的绝缘子进行拍照得到图像q，将图像q灰度化为图像Q并进行存储；

步骤S200，采用相关系数法控制图像P和图像Q进行匹配，并根据最终得到的匹配点调整图像Q为Q’；

步骤S300，控制图像P与图像Q’进行差分计算，得到图像I；

步骤S400，采用双阈值L、U对图像I进行二值化处理得到图像F；其中，L为下阈值，U为上阈值；

步骤S500，控制图像F进行腐蚀处理和图像重构得到图像J；

步骤S600，计算图像J中的最大水迹面积比K，并根据K值识别绝缘子的憎水性等级。

2.根据权利要求1所述的绝缘子憎水性检测方法，其特征在于，所述步骤S200具体包括以下步骤：

S210，在图像Q的非浸水部位截取大小为M*N的图像块g，将图像块g在图像P上滑动，并根据式（1）计算图像块g的中心在滑动过程中对应图像P上的像素点的相关系数R(u,v)：

R(u,v)=Σj=1MΣk=1Nfj+u,k+v×gj,k-MNf‾×g‾Σj=1MΣk=1Nf2j+u,k+v-MNf‾2Σj=1MΣk=1Ng2j,k-MNg‾2---(1),]]>

得到的最大相关系数值所对应的像素点为匹配点；

其中，式（1）中：f‾=1MNΣj=1MΣk=1Nfi,k,]]>g‾=1MNΣj=1MΣk=1Ngj,k,]]>M、N为图像块g的像素值且都为2的整数倍，j、k为像素的坐标，f_j,k为图像P中坐标为（j、k）的像素点的像素值，g_j，k为图像块g中坐标为（j、k）的像素点的像素值，u、v分别为像素块g横向、纵向的移动步长；

步骤S240，根据所述匹配点在图像P中的位置，调整图像Q为Q’，所述匹配点在图像Q’与图像P中的位置相同。