[发明专利]水分浓度测定装置的校正方法以及校正装置

权利要求书

1.一种水分浓度测定装置(100)的校正方法，其为利用光源(2)来测定气体中的水分浓度的水分浓度测定装置(100)的校正方法，其特征在于，

基于待测定浓度的水分的吸收光谱的强度与其它成分气体的吸收光谱的强度之间关系、和通过测定所述其它成分气体得到的吸收光谱的强度来校正水分浓度测定值，所述其它成分气体的吸收光谱的强度能够由所述光源(2)测定，且所述其它成分气体的吸收光谱的强度与所述待测定浓度的水分的吸收光谱的强度之间关系是已知的。

2.如权利要求1所述的水分浓度测定装置(100)的校正方法，其特征在于，

所述待测定浓度的水分的吸收光谱的强度与所述其它成分气体的吸收光谱的强度大致相同。

3.如权利要求1或2所述的水分浓度测定装置(100)的校正方法，其特征在于，

在校正所述水分浓度测定值的过程中，包含：

在校正环境中使用所述光源(2)来测定所述其它成分气体的吸收光谱的强度；

基于朗伯-比尔定律，采用在所述校正环境中用所述光源(2)测定的所述其它成分气体的吸收光谱的强度，利用所述光源(2)将测定光照射到测定环境中的所述其它成分气体，由此得到所述其它成分气体的吸收光谱，并基于该吸收光谱的强度校正水分浓度测定值。

4.一种水分浓度测定装置(100)的校正装置(7)，其为使用光源(2)来测定气体中的水分浓度的水分浓度测定装置(100)的校正装置(7)，其特征在于，包括：

存储部(114)，其存储有待测定浓度的水分的吸收光谱的强度与其它成分气体的吸收光谱的强度之间关系，所述其它成分气体的吸收光谱的强度能够由所述光源(2)测定，且所述其它成分气体的吸收光谱的强度与所述待测定浓度的水分的吸收光谱的强度之间关系是已知的；

校正部(111)，其基于所述待测定浓度的水分的吸收光谱的强度与所述其它成分气体的吸收光谱的强度之间关系、和通过测定所述其它成分气体得到的吸收光谱的强度来校正水分浓度测定值。

5.如权利要求4所述的水分浓度测定装置(100)的校正装置(7)，其特征在于，

所述待测定浓度的水分的吸收光谱的强度与所述其它成分气体的吸收光谱的强度大致相同。

6.如权利要求4或5所述的水分浓度测定装置(100)的校正装置(7)，其特征在于，

所述校正部(111)具有：

测定部(111)，其在校正环境中利用所述光源(2)来测定所述其它成分气体的吸收光谱的强度；

运算部(111)，其基于朗伯-比尔定律，采用在所述校正环境中使用所述光源(2)所测定的所述其它成分气体的吸收光谱的强度，利用所述光源(2)将测定光照射到测定环境中的所述其它成分气体，由此得到所述其它成分气体的吸收光谱，并基于该吸收光谱的强度校正水分浓度测定值。