[发明专利]高精度ADC线性度的测试方法有效

专利信息
申请号: 201210559873.7 申请日: 2012-12-21
公开(公告)号: CN103067008A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 黄成;刘昊;王薇;李佑辉;杨腾;李琪琼 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 范晴
地址: 215123 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 高精度 adc 线性 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种高精度ADC线性度的测试方法,其特征在于,所述测试方法中包括低线性度信号源、待测的高精度ADC以及偏置电压源,低线性度信号源所输出的低线性度信号可与偏置电压源所输出的偏置电压叠加后输入到高精度ADC中,具体的测试步骤如下:

步骤1:将低线性度信号源的输出信号分割成线性部分和非线性部分,然后对其非线性部分进行三角级数展开;

步骤2:通过转换时间对应的输入信号与转换电压相等,得出一组方程,并且通过直方图得出具体转换时间和输出数据;

步骤3:在低线性度信号源的输出信号的基础上叠加一偏置电压后,所述偏置电压来自于偏置电压源的输出端,重复步骤2,得出另一组方程和输出数据;

步骤4:通过得出的两组方程和输出数据,用最小二乘法拟合,估计出三角函数级数的各项系数;

步骤5:用估计出的三角函数级数和输出数据计算出待测的高精度ADC的非线性。

2.根据权利要求1所述的高精度ADC线性度的测试方法,其特征在于,所述低线性度信号源输出的低线性度信号的线性度低,比待测的高精度ADC的低7~8位精度。

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