[发明专利]一种锆石微量元素及锆石岩浆微量元素分配系数测量方法有效
申请号: | 201210559910.4 | 申请日: | 2012-12-21 |
公开(公告)号: | CN103018318A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 郝佳龙;杨蔚;张建超;林杨挺 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
主分类号: | G01N27/64 | 分类号: | G01N27/64 |
代理公司: | 北京五月天专利商标代理有限公司 11294 | 代理人: | 王振华 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 微量元素 岩浆 分配 系数 测量方法 | ||
1.一种锆石微量元素及锆石/岩浆微量元素分配系数测量方法,其特征在于,该测量方法的步骤为:
第一步:用激光或一次离子束扫描样品表面获得微量元素及基底元素图像;
第二步:通过获得到的微量元素的图像信息确定分析位置,偏转激光束或一次离子束到所选择的分析位置,以非扫描模式进行对锆石的微量元素的含量的测量以及对岩浆的微量元素的含量的测量。
2.根据权利要求1所述的锆石微量元素及锆石/岩浆微量元素分配系数测量方法,其特征在于,所述第一步包括步骤:
(1)采用激光通过激光聚焦透镜或采用一次离子源电离出的离子通过离子透镜,聚焦到样品表面上,以扫描分析模式扫描,即以激光束偏转装置或离子束偏转装置规律的偏转激光或离子束,逐行扫描轰击样品表面,其中扫描样品的区域大小以及扫描时间可调,扫描的过程中样品表面电离溅射出离子;
(2)所测离子通过离子透镜从样品表面引出,离子透镜可以通过高压引出所测样品表面电离出来的带电离子,这些离子通过离子透镜后进入质谱系统,通过质谱系统后,根据离子质量数之间的差异被分离出来,这些被分离的离子被接收装置接收,由接收装置检测出的信号通过信号转换部分转换成计算机可接收的信号;
(3)由所述步骤(2)得到的计算机可接收的信号,获得样品表面的二维元素图像信息,该二维元素图像信息是多个元素的图像信息即为多幅元素图像,将所得到的元素图像存储到计算机硬盘中。
3.根据权利要求2所述的锆石微量元素及锆石/岩浆微量元素分配系数测量方法,其特征在于,所述第二步包括步骤:
(a)根据所述步骤(3)得到的元素图像信息,选择下一步非扫描分析测量的位置,该位置可以是一个位置或多个位置;选择步骤(3)中能够用来判断可能包裹体的元素图像,使选择的位置能够避开可能的包裹体;选择步骤(3)中能够用来判断相应环带的元素图像,选择的位置包括所述相应环带;由于需要测量锆石/岩浆微量元素分配系数,则所选的位置也需要包括与岩浆距离最近的锆石上的环带处位置以及与锆石距离最近的岩浆上的位置;所选的位置坐标记录以列表的形式存储到计算机缓存文件中以及硬盘中供查询结果使用;
(b)偏转激光束或一次离子束到步骤(a)中记录的位置的坐标,在该记录的位置处,依次对每个位置,以非扫描模式进行对锆石的微量元素的含量的测量以及对岩浆玻璃的微量元素的含量的测量,以及测量后进行所述步骤(2),并将进行所述步骤(2)得到的每个位置处的元素的信息文件储存在以相应位置信息为文件的文件中;
(c)在含量已知的锆石标样和熔融玻璃标样上分别依次进行所述步骤(1)、(2)、(3)、(a)和(b),并存储相关数据;
(d)与锆石标样和熔融玻璃标样的测量数据比对,可获得锆石和岩浆上的微量元素的含量;
(e)通过以下公式得到分配系数:
其中为微量元素i的锆石与岩浆的分配系数,与分别为微量元素i在锆石与岩浆中的含量。
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