[发明专利]一种LED老化的检测筛选方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种LED老化的检测筛选方法 ，尤其涉及一种通过对LED老化将电性和工艺存在隐患的LED排除的检测筛选方法。 

背景技术

在大功率LED路灯照明中，三大技术关键是：热管理、驱动电源和LED性能质量。前两项已有许多改进成果，独有第三项仍是沿袭着前人故道蹒跚而行，其现状是：由多粒大功率LED阵列或大功率多晶集成（IC）组成的光源中，剔除早期和次早期失效的LED器件，历来都是繁琐和头疼的问题，LED器件经规范条件测试合格后，最后把关便是通用的老化试验了，然而常规的老化试验只能剔除部分早期失效的大功率LED，对次早期失效的大功率LED却无能为力，同时这一方法用于剔除早期失效的大功率LED的近期效果也极为有限，因而人们期望延长老化时间来达到预期目标，有的甚至将老化时间延长至240小时，但终将于事无补，大功率照明的早期和次早期失效的LED仍不断出现（其他部件失效另文探讨），这对昂贵的大功率LED路灯而言，也就瑕疵难掩，难附长寿命之实。

目前，有效地预测和检测LED的性能失效的设备还没存在，而一般的检测都是采用传统的方法来处理。一般来说，LED老化就是采用高电压耐受驱动方法，将比正常驱动电压高的驱动电压作用于LED，该方法是将比驱动LED所需的多个电压都高的电压作用于LED，并且给LED提供耐受测试。高电压耐受驱动方法测试可以提高检测令所施加的电压电平能对电路开路的LED存在的线路缺陷进行检测的能力。高电压耐受驱动方法可以显著地减少老化测试时间以及提供LED的生产率。但是现在没有还没有适合LED老化检测的专门装置设备，传统的方法是采用人工测试的方式，利用人手对每个LED进行老化测试，而这种方式检测不仅对于检测工人的眼睛具有极大的伤害而且其检测的效率非常低，以每天工作8小时计，每个工人每天检测最多5千个LED,且人工检测，对于LED拔出时其正负极的管脚容易弯曲变心，影响产品的质量。

为改变这一现状，则需另辟蹊径，别开思路。申请人从长期的工作实践和查阅资料中分析、研究了大功率LED照明装置系统失效机理和LED器件失效机理后研究出了本方法，采取了一系列常规测试之外的补充方法，用以剔除早期和次早期失效的大功率LED，从而提高大功率LED的可靠性。 

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种LED老化的检测筛选方法，该方法包括以下步骤：

A. 将待检测的LED阵列对齐，使LED负极管脚与负极触点片良好接触，并且使计算机数控设备输出端的每个触点与对应的每个LED正极管脚连接，保持正极触片和负极触片的电源接通，将热电偶测温仪的每个触点分别与每个LED相接触，使LED阵列通电对阵列上各LED进行老化；

其中输出的额定电压为24V、额定电流输出为50mA，LED老化时间为70分钟，所述计算机数控设备能够根据需要调整输入到各LED的电流和电压，并且能够在计算机显示器上显示出各个输出触点的电压和/或电流值，计算机数控设备周期性的更新显示出的电压和电流值，并对电压和电流值进行存储，对于电压和/或电流值异常的LED单元会在显示器上进行高亮显示；

所述计算机数控设备的输入端连接有热电偶测温仪，接收来自所述热电偶测温仪的温度数据，所述计算机数控设备根据接收到的各个LED的温度数据以及相应的电压和/或电流值，绘制成线性关系的电压、温度函数曲线并在计算机显示器上显示；

B. 所述计算机数控设备周期性的对所述LED阵列进行逐行检测，在所述计算机数控设备中预置有LED启动阀值和关闭阀值参数，在逐行检测中，当检测到LED达不到所述启动阀值和关闭阀值时，在计算机显示器上显示标识，并对标识对应的LED的位置信息进行存储；

C. 在额定电压和电流运行工况下，当检测到LED出现压降异常时，在计算机显示器上显示标识，并对标识对应的LED的位置信息进行存储；

D. 在额定电压和电流运行1小时以上且温度稳定后，当检测到LED的电压值在1小时前后差值超过设定的阈值时，在计算机显示器上显示标识，并对标识对应的LED的位置信息进行存储；

E. 在老化测试时间到达后，根据存储的位置信息，将所有不合格的LED的标识在显示器上显示，操作人员根据计算机上显示的标识，对不合格的LED进行标记筛选，完成LED老化的检测和筛选。