[发明专利]LED抗静电测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及抗静电测试领域，特别是涉及一种LED抗静电测试方法。

背景技术

半导体发光二极管（Light Emitting Diode，LED）由于具有光效高、寿命长、体积小和光谱分布独特等特点，被越来越多的光学领域所应用。随着LED应用越来越广泛，LED的品质受到了前所未有的重视。LED在制造、运输、装配及使用过程中，生产设备、材料和操作者都有可能给LED带来静电（Electro-Static Discharge，ESD）损伤，导致LED过早出现漏电流增大，光衰加重，甚至出现死灯现象，静电对LED品质有非常严重的影响。

不同的环境中存在不同程度的静电，通过静电感应或直接转移等形式LED芯片的PN结两端会积聚一定数量极性相反的静电电荷，形成不同程度的静电电压。当静电电压超过LED的最大承受值时，静电电荷将以极短的时间在LED的两个电极间放电，从而产生热量。在LED芯片内部的导电层、PN结发光层形成1400℃以上的高温，高温导致局部熔融成小孔，从而造成LED漏电、变暗、死灯，短路等现象。

一般常采用批量试用的方法来判定LED的抗静电能力，但是这种方法周期长、成本高、误差大。还有一些测试方法将LED扔进塑料袋吹气、揉搓或测LED的反向电阻等方法来判定LED的抗静电能力，但这些方法都没有标准依据，只能依靠经验来判断，不规范。这些方法都无法为保障LED品质、提高LED综合抗静电能力提供有效的帮助，无法解决LED在长期不同环境使用过程中由于静电作用，使LED无法正常工作的难题。

发明内容

基于此，有必要针对无法准确测定LED抗静电能力问题，提供一种测试准确的LED抗静电能力测试方法。

一种LED抗静电测试方法，用于测试在不同温度环境下LED的抗静电能力，包括如下步骤：对所述LED进行常规检查，记录所述测试前LED参数数据；在不同的温度环境下，分别对所述常规检查正常的LED进行第一强度等级静电放电和第二强度等级静电放电并记录测试后LED参数数据，所述不同的温度包括常温、低于常温的第一测试温度和高于常温的第二测试温度；对比所述测试前LED参数数据和所述测试后LED参数数据，判断所述LED在所述不同的温度环境下的抗静电能力。

在其中一个实施例中，还包括在每一次测试完成后对所述LED进行常规检查并比对所述测试前LED参数数据与所述测试后LED参数数据的步骤，若发现所述LED出现异常则停止测试，否则继续测试。

在其中一个实施例中，所述常规检查，记录所述测试前LED参数数据包括如下步骤：将LED放置在照度为45~55勒克斯的环境中；以所述LED的额定功率点亮LED；检查所述LED发光是否异常；测试并记录所述LED的参数数据。

在其中一个实施例中，通过积分球测试所述LED的参数数据。

在其中一个实施例中，所述第一强度等级为±2千伏。

在其中一个实施例中，所述第二强度等级为±4千伏。

在其中一个实施例中，对所述常规检查正常的LED进行第一强度等级静电放电和第二强度等级静电放电分别进行15~35次。

在其中一个实施例中，完成所述第一强度等级静电放电后进行所述第二强度等级静电放电或测试顺序相反。

在其中一个实施例中，在所述第一测试温度或第二测试温度下进行测试时具体包括如下步骤：将所述LED放置在所述第一测试温度或所述第二测试温度环境中点亮并保温2小时；对所述LED进行第一强度等级静电放电和第二强度等级静电放电；将所述LED置于常温1.5~2.5小时。

在其中一个实施例中，所述第一测试温度为0±5摄氏度，第二测试温度为50±5摄氏度。

上述LED抗静电能力测试方法，通过模拟不同的温度环境测试LED的抗静电能力，不同的温度环境包括常温、低于常温的第一测试温度和高于常温的第二测试温度，通过比较测试前后LED的参数数据，评估LED的抗静电能力。通过模拟不同的温度环境对LED的抗静电能力进行测试，可检测出在不同的环境中经过使用后抗静电能力较差的LED，针对其进行设计改进，避免在工作中出现LED被静电影响导致无法工作的问题。

附图说明

图1为本发明LED抗静电测试方法一实施例的流程图；

图2为图1所示实施例步骤S110的流程图；

图3为图1所示实施例第一测试温度和第二测试温度下进行LED抗静电测试的流程图。

具体实施方式