[发明专利]等离子体放电装置有效

专利信息
申请号: 201210566278.6 申请日: 2012-12-24
公开(公告)号: CN103889138A 公开(公告)日: 2014-06-25
发明(设计)人: 贾少霞;张宸;杨景华;王守国 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H05H1/46 分类号: H05H1/46
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 刘丽君
地址: 100029 北京市*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 等离子体 放电 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及硅片清洗技术领域,特别涉及一种等离子体放电装置。

背景技术

在半导体生产中,清洗硅片表面光刻胶工艺占据了十分重要的环节,清洗的好坏直接影响器件的稳定性和可靠性。在其他行业中,液晶玻璃平板、PCB板等材料表面除了需要清洗表面有机污染物外,还需要改善材料表面的亲水性或疏水性。

传统清洗硅片表面的方式是采用湿法化学方法,湿法化学方法存在许多亟待解决的问题,例如清洗不够彻底、清洗产生的废液易对环境造成污染、采用溶液容易引进杂质、消耗大量的水和酸等。目前已经出现了一种干法清洗装置,这种清洗装置工作在真空状态下,需要不断切断设备工作,取出硅片,放入另一批硅片,抽真空,然后进行放电清洗,导致设备操作复杂、成本高,不能实现连续在线工作;此外,已经出现的一些常压清洗技术采用了金属电极,存在易引入金属杂质的缺点。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种等离子体放电装置。

为解决上述技术问题,本发明提供了一种等离子体放电装置,包括两个射频电极、介质阻挡层、匀气板、气源、射频电源和金属外壳;所述射频电源与所述射频电极连接;

放电装置在工作时,所述金属外壳接地;

所述射频电极被介质阻挡层包覆;

两个射频电极之间为等离子体喷口;

所述匀气板位于所述介质阻挡层上方;

所述气源提供的工作气体通过由所述匀气板构成的收缩口,到达所述等离子体喷口,并在常压下,电源接通后,在所述喷口处形成大面积的辉光等离子体,等离子体在气流的携带下向外喷出。

进一步地,所述匀气板分为三层,其中,靠近所述射频电极的一层匀气板设置有用于收缩气流的出口,使得工作气体通过所述第三出口后到达射频电极之间的喷口。

进一步地,第一层匀气板由两个匀气板构成,该两个匀气板之间设置有气体出口,该两个该匀气板与所述金属外壳之间均设置有气体出口;

第二层匀气板由一个匀气板构成,该匀气板与所述金属外壳之间均设置有气体出口;

第三层匀气板由两个所述匀气板构成,该两个匀气板分别与所述金属外壳连接,该两个匀气板之间设置有用于气体收缩气流的出口。

进一步地,在第三层匀气板设置的所述用于气体收缩气流的出口面积小于两个射频电极之间的面积。

进一步地,两个所述射频电极均是呈半圆形金属条,在装置放电时,等离子体仅沿着半圆形弧面转移。

进一步地,所述金属壳体表面设置有带孔的绝缘块,所述射频电源通过所述绝缘块与所述射频电极的连接。

本发明提供的等离子体放电装置,两个射频电极均为半圆形金属条,装置工作时,等离子体仅沿着弧面转移,避免了散射性放电,提高了放电效率,装置的收缩状气流出口提高了气流速率,等离子体在气流的携带下喷向被处理材料,与被处理材料表面的有机物发生反应,生成二氧化碳和水,可以直接排放到大气中。常压介质阻挡等离子体放电装置用于清洗硅片表面光刻胶、清洗或活化液晶玻璃平板、清洗或改善PCB板或其他有机材料表面的亲水性或疏水性。本发明的金属射频电极被介质阻挡层包覆,金属外壳与射频电极之间也被介质阻挡层隔离,能克服现有技术中易引入金属杂质这一缺点。由于采用板圆形金属条的射频电极,使得放电产生的等离子体沿着弧面转移,避免了散射性放电,提高了放电效率,采用收缩状匀气板,可有效提高气流速率,增大等离子体喷出喷口的长度,降低了装置对被处理材料的形状等要求。

附图说明

图1为本发明实施例提供的等离子体放电装置原理示意图。

图2为本发明实施例提供的等离子体放电装置外形图。

具体实施方式

参见图1,本发明实施例提供的等离子体放电装置,包括两个半圆形射频电极107、包覆在射频电极外面的介质阻挡层106、作为接地电极的金属外壳104、射频电极与金属壳体之间的介质阻挡层112、装置内部的三层匀气板105、一个射频电源111、气源101、流量计102以及供气管路103。两个射频电极107均呈半圆形金属条,装置放电时,等离子体仅沿着弧面转移,提高了放电效率,扩大了等离子体与硅片等被处理材料表面的接触面积。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210566278.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top