[发明专利]一种适用于静态随机存储器的冗余容错内建自修复方法

权利要求书

1.一种适用于静态随机存储器的冗余容错内建自修复方法，其特征在于，包括以下步骤：

1）、首先，进行复位操作，对SRAM内建自修复算法中所有的寄存器初始化；

2）、进入冗余测试，对SRAM冗余地址执行March C-算法；获取冗余地址失效标志位；

3）、分析冗余地址的失效标志位，屏蔽失效的冗余地址，存储有效的冗余地址。

2.如权利要求1所述的一种适用于静态随机存储器的冗余容错内建自修复方法，其特征在于，所述方法还包括以下步骤：

4）、进行主测试，对SRAM主地址执行March C-算法；在主测试中，存储检测到的失效主地址，并计数；没有失效，则结束测试；有失效，并且溢出，则结束测试；有失效，但没有溢出，则进入修复和测试；

5）、在修复和测试中，用有效冗余地址替换失效主地址，再次对主地址执行一次March C-算法；如果有错误，则提示有错误，测试结束；如果没有错误，则提示没有错误，测试结束。

3.如权利要求1所述的一种适用于静态随机存储器的冗余容错内建自修复方法，其特征在于，步骤2）具体包括以下步骤：对SRAM冗余地址执行MarchC-算法，对每个冗余地址进行测试，根据测试结果判断其是否失效，如果失效，则将该地址的失效标志位置为1，否则置为0；然后，判断March C-算法是否结束，如果结束，则冗余测试结束，否则，跳转到下一个地址，对下一个地址进行测试，直到March C-算法结束。

4.如权利要求1所述的一种适用于静态随机存储器的冗余容错内建自修复方法，其特征在于，步骤3）具体包括以下步骤：判断当前冗余地址是否小于冗余地址深度，如果不小于，则将失效冗余地址屏蔽完成标志位置1，失效冗余地址屏蔽结束；否则，将失效冗余地址屏蔽完成标志位置0，并检测该冗余地址失效标志位是否为0，如果是0，则将该冗余地址存入有效冗余地址寄存器中，有效冗余地址索引号i加1，冗余地址加1；如果该冗余地址失效标志位为1，则冗余地址直接加1；无论当前冗余地址是否失效，都进入对下一个冗余地址的分析，直到对所有的冗余地址分析完成后，结束。

5.如权利要求1所述的一种适用于静态随机存储器的冗余容错内建自修复方法，其特征在于，步骤3）中对冗余地址进行分析，如果该冗余地址失效标志位为0，则将该冗余地址存入有效冗余地址寄存器内，否则，将其屏蔽掉，不存入。