[发明专利]偏光膜的裁切方法及其裁切系统

权利要求书

1.一种偏光膜的裁切方法，其特征在于该方法包含：

(1)提供具有保护膜的偏光膜卷料；

(2)定位该偏光膜卷料上的复数个裁切区及该复数个裁切区对应的复数个检测区，其中各该检测区与对应的各该裁切区相邻；

(3)移除该复数个检测区的保护膜；

(4)量测该复数个检测区的复数个吸收轴角度，取得与该复数个吸收轴角度分别对应的复数个吸收轴角度信息；

(5)传送该复数个吸收轴角度信息至信息处理装置；

(6)利用该信息处理装置分析该复数个吸收轴角度信息，并将该复数个吸收轴角度信息转换成复数个裁切信息，接着将该复数个裁切信息传送至裁切控制装置；

(7)该裁切控制装置根据该复数个裁切信息调整裁切装置中复数个刀模的角度；以及

(8)沿该复数个裁切区，裁切该偏光膜卷料形成复数个偏光板，其中该复数个偏光板的吸收轴角度符合该复数个吸收轴角度信息。

2.如权利要求1所述的裁切方法，其特征在于该步骤(3)还包含先裁断该复数个检测区的保护膜，再移除该复数个检测区的保护膜。

3.如权利要求2所述的裁切方法，其特征在于该裁断该复数个检测区的保护膜的方法为裁刀切割法、激光切割法、押切型切割法、滚刀型切割法或其组合。

4.如权利要求1所述的裁切方法，其特征在于各该刀模的底部还包含电动转轴。

5.一种偏光膜的裁切系统，其特征在于该裁切系统包含：

平台，用以放置偏光膜卷料；

传输装置，设置于该平台上，用以传输该偏光膜卷料；

定位装置，设置于该平台上，用以定位该偏光膜卷料上的复数个裁切区及复数个检测区；

移除装置，设置于该平台上，用以移除该复数个检测区的保护膜；

光学检测装置，设置于该平台上，用以量测该复数个检测区的吸收轴角度，取得复数个吸收轴角度信息；

裁切装置，设置于该平台上，具有裁切控制装置及复数个刀模，其中该裁切控制装置调控该复数个刀模，以沿该复数个裁切区裁切偏光膜卷料，形成复数个偏光板；以及

信息处理装置，耦接于该光学检测装置及该裁切控制装置之间，用以接收该复数个吸收轴角度信息、分析该复数个吸收轴角度信息、转换该复数个吸收轴角度信息成所对应的复数个裁切信息、以及传送该复数个裁切信息至该裁切控制装置，

其中该裁切装置的该复数个刀模根据该复数个裁切信息调整该复数个刀模的角度。

6.如权利要求5所述的裁切系统，其特征在于该移除装置还包含保护膜裁断装置及胶带滚轮粘除装置。

7.如权利要求6所述的裁切系统，其特征在于该保护膜裁断装置为裁刀切割装置、激光切割装置、押切型切割装置、滚刀型切割装置或其组合。

8.如权利要求5所述的裁切系统，其特征在于该光学检测装置至少包含光学检测单元。

9.如权利要求5所述的裁切系统，其特征在于各该刀模的底部还包含电动转轴。