[发明专利]一种存储器及其存储方法

说明书

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种存储器及其存储方法。

背景技术

相变存储器测试是非易失性闪存存储器测试的一项主要内容。图1是一独立式相变存储器8的结构示意图；其中片上程序区80是用只读存储器(ROM，Read Only Memory)实现的，片上数据区82是用静态随机存储器(SRAM，StaticRandom Access Memory)实现的；而存储器阵列84则由相变存储器(PCM，Phase-Change Memory)实现。微控制器内核86访问片上程序区80、片上数据区82和片上寄存器区88，并通过片上寄存器区88的输出来访问片上存储器阵列84。

事实上，片上程序区80通常选用ROM的原因是因为在封装和板级贴片的时候会在芯片上产生高温，而相变材料不耐高温，如果采用PCM的话，会使片上程序区80里的客户应用程序丢失。由于是只读存储器，一旦程序固化到用ROM做的片上程序区80中，片上程序区80里面的内容在封装后就固定了。这样导致的直接结果是：片上程序区80不灵活，固定的程序只能测试固定的功能。如果以后在客户使用过程中发现了生产时没有测试到的问题，工厂就不能通过更改片上程序区80中的程序来测试新的问题，必须重新设计和制造芯片，写入新的测试程序来测试问题。这必然会花费额外的人力、物力、财力，极大的降低效率。另一方面，片上程序区80中有一部分写了工厂的测试代码，只有剩下的一部分是客户可用的。这意味着客户实际能用的片上程序区80的大小将小于实际的片上程序区80大小，客户代码密度降低。其它类型的存储器也存在类似问题。

综上所述，在集成电路应用愈来愈广泛的前景下，如何克服存储器测试中存在的诸多问题，以提高测试灵活性和客户代码密度等亟需解决。

发明内容

本发明克服了现有技术中缺乏测试灵活性以及客户代码密度低等缺陷，提出了一种存储器及其存储方法。

本发明提出了一种存储器，包含微控制器内核，及为正常工作模式设置的片上程序区与片上数据区，所述微控制器内核可访问所述片上程序区与片上数据区；所述存储器进一步包含：

片上程序区与片上数据区互换使能管脚，其提供所述片上程序区与片上数据区互换的使能信号；

片上地址编码器或地址仲裁器模块，其接收所述使能信号并输出访问所述片上程序区的程序区总线和访问所述片上数据区的数据区总线；

第一选择器，其具有一接收使能信号的选择端、接收所述程序区总线的输入端、接收所述数据区总线的输入端，及连接至所述片上程序区的输出端；及

第二选择器，其具有一接收使能信号的选择端、接收所述程序区总线的输入端、接收所述数据区总线的输入端，及连接至所述片上数据区的输出端。

其中，当所述存储器进行测试时，所述使能管脚输出所述使能信号，测试程序将被下载到互换后的片上程序区；否则所述使能管脚悬空。

其中，输出所述使能信号时，如果所述使能管脚内部带下拉，则所述使能管脚置高；如果所述使能管脚内部带上拉，则所述使能管脚置低。

其中，如果所述存储器是独立式相变存储器，则为所述正常工作模式设置的所述片上程序区为只读存储器，所述片上数据区为静态随机访问存储器；如果所述存储器是嵌入式相变存储器，则为所述正常工作模式设置的所述片上程序区为相变存储器，所述片上数据区为静态随机访问存储器。

其中，当接收到所述使能信号后，所述片上地址编码器或者地址仲裁器模块将输出的所述程序区总线中的地址与控制总线和数据区总线中的地址与控制总线互换。

本发明还提出了一种存储器的存储方法，包含：

驱动所述使能管脚以产生所述使能信号；及

将测试程序将被下载到互换后的片上程序区。

其中，非测试时所述使能管脚悬空。

其中，为产生所述使能信号，如果所述使能管脚内部带下拉，将所述使能管脚置高；如果所述使能管脚内部带上拉，将所述使能管脚置低。

其中，如果所述存储器是独立式相变存储器，则为所述正常工作模式设置的所述片上程序区为只读存储器，所述片上数据区为静态随机访问存储器；如果所述存储器是嵌入式相变存储器，则为所述正常工作模式设置的所述片上程序区为相变存储器，所述片上数据区为静态随机访问存储器。

其中，当接收到所述使能信号后，所述片上地址编码器或者地址仲裁器模块将输出的所述程序区总线中的地址与控制总线和数据区总线中的地址与控制总线互换。