[发明专利]包括安装在DCB衬底上的分立器件的模块及制造模块的方法有效

专利信息
申请号: 201210568793.8 申请日: 2012-12-24
公开(公告)号: CN103178030A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 丹尼尔·多梅斯;拉尔夫·奥特伦巴;罗兰·鲁普 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L21/60
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;李静
地址: 德国瑙伊*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 包括 安装 dcb 衬底 分立 器件 模块 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种模块,包括:

直接铜键合(DCB)衬底;以及

安装在所述DCB衬底上的分立器件,其中,所述分立器件包括:

引线框架;

安装在所述引线框架上的半导体芯片;以及

覆盖所述半导体芯片的封装材料。

2.根据权利要求1所述的模块,还包括:

金属载体,其中,所述DCB衬底安装在所述金属载体上;以及

壳体,其中,所述壳体布置在所述金属载体上并且容纳所述DCB衬底和所述分立器件。

3.根据权利要求2所述的模块,还包括金属夹,其中,所述金属夹的一端附接至所述DCB衬底,并且所述金属夹的另一端布置在所述壳体外部。

4.根据权利要求3所述的模块,其中,所述金属夹的布置在所述壳体外部的端部是外部接触元件。

5.根据权利要求1所述的模块,其中,所述半导体芯片具有第一表面、以及与所述第一表面相对的第二表面,其中,在所述第一表面上布置有第一电极,并且在所述第二表面上布置有第二电极。

6.根据权利要求1所述的模块,其中,所述半导体芯片包括由碳化硅制成的衬底。

7.根据权利要求1所述的模块,还包括安装在所述DCB衬底上的另一半导体芯片。

8.根据权利要求7所述的模块,其中,所述半导体芯片包括由碳化硅制成的衬底,并且所述另一半导体芯片包括由硅制成的衬底。

9.根据权利要求1所述的模块,还包括嵌入所述分立器件的硅凝胶层。

10.根据权利要求9所述的模块,还包括沉积在所述硅凝胶层上的环氧树脂层。

11.根据权利要求1所述的模块,还包括安装在所述DCB衬底上的另一分立器件。

12.根据权利要求1所述的模块,其中,所述DCB衬底包括由两个铜层包围的陶瓷层。

13.根据权利要求1所述的模块,其中,所述半导体芯片是功率MOSFET、IGBT、JFET以及功率双极晶体管中的一者。

14.根据权利要求1所述的模块,其中,所述分立器件是表面安装器件(SMD)。

15.一种模块,包括:

金属载体;

安装在所述金属载体上的直接铜键合(DCB)衬底;

安装在所述DCB衬底上的表面安装器件(SMD);

壳体,其中,所述壳体布置在所述金属载体上并且容纳所述DCB衬底和所述SMD;以及

至少一个金属夹,其中,所述至少一个金属夹的一端附接至所述DCB衬底,并且所述至少一个金属夹的另一端布置在所述壳体外部。

16.一种用于制造模块的方法,所述方法包括以下步骤:

设置包括半导体芯片的分立器件;

将所述分立器件安装在直接铜键合(DCB)衬底上;以及

将至少一个金属夹安装在所述DCB衬底上,其中,所述至少一个金属夹的一部分是所述模块的外部接触元件。

17.根据权利要求16所述的方法,其中,所述分立器件包括电端子,所述DCB衬底包括结构化铜层,并且将所述分立器件安装在所述DCB衬底上包括将所述分立器件的所述电端子附接至所述DCB衬底的所述结构化铜层。

18.根据权利要求16所述的方法,还包括:

将所述DCB衬底安装在金属载体上;以及

在所述金属载体上放置壳体,其中,所述壳体容纳所述DCB衬底和所述分立器件。

19.根据权利要求16所述的方法,还包括在将所述分立器件安装在所述DCB衬底上之前制造所述分立器件。

20.根据权利要求19所述的方法,其中,制造所述分立器件包括:

设置引线框架;

将所述半导体芯片安装在所述引线框架上;以及

用封装材料覆盖所述半导体芯片。

21.根据权利要求16所述的方法,还包括在将所述分立器件安装在所述DCB衬底上之后用硅凝胶覆盖所述分立器件。

22.根据权利要求21所述的方法,还包括在所述硅凝胶层上沉积环氧树脂。

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