[发明专利]光纤接口的检测方法及检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种光纤检测方法及检测装置，特别涉及一种光纤接口的检测方法和检测装置。

背景技术

光纤设备是一种敏感性很高的设备，光纤设备中一个很小的部件出现故障，都会造成整个光纤设备不能正常工作，因此，在光纤连接之前，通常要对光纤接口进行检测，光纤包括两层，分别是覆层和芯部，覆层是以玻璃层包裹着芯部，以防止芯层中的信号流失。芯部是光纤的关键部件，光线完全通过内部反射在光纤的芯部传播或者停留。光纤接口的末端包括三个主要的区域，芯部、覆层和套筒，在光纤接口的末端表面上，有可能存在颗粒物，颗粒离芯部越近，对光纤的影响越大。光纤接口技术中有三个基础的技术问题，分别是：1、精准的中心对准；2、物理上的匹配；3、纯净的光纤接口表面；现有技术中，光纤技术最大的挑战来自于如何保证纯净的光纤接口表面，因为，如果颗粒物进入光纤芯部之中，会引起光纤反射，甚至损坏光纤设备。一般情况下，尘土粒子的平均直径为2到5μm。这样大小的粒子，人通过肉眼是无法识别的。

新的光纤接口表面都可能是被污染了的，防尘帽可以保护光纤接口的表面免于被污染，但是防尘帽也可能成为污染的来源。

现有技术中，为了检测光纤接口表面并清洁表面，通常用探针显微镜检测接口表面是否干净，如果有污点，则进行清洗，之后再用探针显微镜检测，确认清洁后再连接光纤接口。这样做虽然保证了光纤接口的清洁，但是，一个光纤接口就需要人工进行反复的插接，检测，清洁，检测工序，大大增加了工作量，降低了光纤接口的生产效率。亟待提供一种能更高效地进行光纤接口检测的方法和相应的装置。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种光纤接口的检测方法和检测装置，实现对光纤接口表面进行检测，同时提高对光纤接口检测的效率。为了实现上述发明目的，本发明的技术方案是：

一种光纤接口的检测方法，包括以下步骤：A、将跳线的第一接口与光纤接口表面连接并将跳线的第二接口与分光器连接；B、光源通过分光器进而通过跳线向光纤接口表面传送光线；C、光功率计测量光纤接口表面反射并经跳线传输进而由分光器分光的反射光功率；D、将测得的反射光功率值与设定值比较，如果大于设定值，则判定光纤接口表面被污染，如果小于设定值，则判定光纤接口表面良好。

    一种光纤接口的检测装置，其特征在于，所述光纤接口的检测装置包括：光纤接口表面、跳线、光源、分光器和光功率计；

    光纤接口表面与跳线的第一接口连接，分光器与跳线的第二接口连接，分光器分别与光功率计和光源连接；

光源发出的光线经分光器分光并经跳线传输给光纤接口表面并产生反射光，反射光经跳线传输并由分光器分光后传送给光功率计测量反射光功率。                                                                      

假设P₁是光源功率、P₂是通光功率、P_BR是反射光的功率、P_R是光纤接口处损失的光功率；那么P_BR=P₁-P₂-P_R,进一步得到P₁=P₂+P_BR+P_R;由于光纤接口处损失的光功率P_R和光源功率P₁一般是恒定的，那么，通光功率P₂越大，说明反射光功率P_BR越小，被反射的光功率小，也从侧面说明了光纤接口的性能良好；反之，如果反射光功率P_BR越大，则说明通光功率P₂越小，更多的光被反射回来，光纤接口可能存在某种障碍，例如污点、油污或者弯折的情形。

通常情形下，由于通光功率的检测实现难度高，那么通过对反射光的功率P_BR进行检测，能够起到对光纤接口的检测作用，进而为排查故障提供方便。

所述设定值与光源功率成正比。

光源功率越大，意味着光源通过分光器进而通过跳线传送到光纤接口表面的光线越多，在相同情况下，反射回的光功率值也就越大，因此，设定固定的设定值是不合理的。应该随光源功率的改变设定一个与其成正比的设定值。