[发明专利]间隔变更装置、电子元件操作装置以及电子元件测试装置有效
申请号: | 201210570446.9 | 申请日: | 2012-12-25 |
公开(公告)号: | CN103226154A | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 中嶋治希 | 申请(专利权)人: | 株式会社爱德万测试 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02;G01R31/26 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 高占元 |
地址: | 日本东京都练*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 间隔 变更 装置 电子元件 操作 以及 测试 | ||
1.一种间隔变更装置,用于变更被测电子元件间的间隔,其特征在于,具有:
用于保持所述被测电子元件的多个保持构件;
用于为所述多个保持构件提供导向的轨道;
沿着所述轨道以第1间隔送出所述保持构件的第1移动构件;
具有从所述第1移动构件接收所述保持构件的多个接收部,沿着所述轨道以第2间隔移动所述接收部的第2移动构件;
用于控制所述第1移动构件的送出速度以及所述第2移动构件的接收速度的控制构件。
2.根据权利要求1所述的间隔变更装置,其特征在于,
在所述轨道上,多个所述保持构件之间的间隔可变。
3.根据权利要求1所述的间隔变更装置,其特征在于,
所述控制构件,通过使所述第1移动构件的送出速度与所述第2移动构件的接收速度不同来变更所述保持构件之间的间隔。
4.根据权利要求1所述的间隔变更装置,其特征在于,
所述控制构件,通过在用所述第2移动构件使所述接收部移动的同时,使所述第1移动构件间歇性地停止,从而使所述保持构件不被传递至特定的所述接收部。
5.根据权利要求1所述的间隔变更装置,其特征在于,
所述第1移动构件,通过在多个保持构件之间相互接触的状态下移动最末尾的所述保持构件,从而向所述第2移动构件顶出最前端的所述保持构件。
6.根据权利要求1所述的间隔变更装置,其特征在于,
所述第2移动构件具有:
以第2间隔安装有多个所述接收部,与所述轨道并行设置的无端的传送带;
呈绳状铺设有所述传送带的不少于两个的滚轮;
以及用于旋转驱动一个所述滚轮的电机。
7.根据权利要求1所述的间隔变更装置,其特征在于,
所述第1间隔与所述用户托盘的容纳部之间的间隔实质上相同,
所述第2间隔与测试托盘的插入件之间的间隔实质上相同。
8.根据权利要求1所述的间隔变更装置,其特征在于,包含:
在所述被测电子元件的端子朝下或朝上的姿势下从第1托盘将所述被测电子元件移载至所述保持构件的第1移载构件,以及
在所述端子朝上或朝下的姿势下从所述保持构件将所述被测电子元件移载至第2托盘的第2移载构件。
9.一种电子元件操作装置,为测试所述被测电子元件而将所述被测电子元件装载于测试托盘上并搬送,并将所述被测电子元件推压于测试头的接触部,其特征在于,包含:
将测试前的被测电子元件从用户托盘移载至测试托盘的如权利要求1~8中任一项所述的第1间隔变更装置,或者
将测试后的被测电子元件从测试托盘移载至用户托盘的如权利要求1~8中任一项所述的第2间隔变更装置中的至少一个。
10.一种电子元件测试装置,用于测试被测电子元件,其特征在于,包含:
测试头;
如权利要求9所述的将所述电子元件推压于所述测试头的接触部的电子元件操作装置;以及
电连接于所述测试头的测试器。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社爱德万测试,未经株式会社爱德万测试许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210570446.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光学极性模块及系统
- 下一篇:微波加热构件和用于形成该构件的坯件