[发明专利]一种低温高负载状况下材料表面的无界面强化处理方法无效

专利信息
申请号: 201210575283.3 申请日: 2012-12-26
公开(公告)号: CN103898469A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 廖敏;罗蓉蓉;李鹏远;韩石磊;孙振超;周晓璐;许丹;鄢华男;王跃 申请(专利权)人: 核工业西南物理研究院
主分类号: C23C14/48 分类号: C23C14/48;C23C14/02
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 包海燕
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 低温 负载 状况 材料 表面 界面 强化 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种低温高负载状况下材料表面的无界面强化处理方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1基材预处理;步骤2清洗基材表面;步骤3离子注入。

2.根据权利要求1所述的低温高负载状况下材料表面的无界面强化处理方法,其特征在于:步骤1中,对金属基材表面进行抛光。

3.根据权利要求2所述的低温高负载状况下材料表面的无界面强化处理方法,其特征在于:所述金属基材为316LN不锈钢材料。

4.根据权利要求1所述的低温高负载状况下材料表面的无界面强化处理方法,其特征在于:步骤2中,对基材表面先后进行超声波清洗、离子溅射清洗。

5.根据权利要求4所述的低温高负载状况下材料表面的无界面强化处理方法,其特征在于:步骤2中,采用丙酮或乙醇进行超声波清洗,采用Ar+离子对金属基材表面进行离子溅射清洗,离子溅射清洗时间为10-15分钟。

6.根据权利要求4所述的低温高负载状况下材料表面的无界面强化处理方法,其特征在于:步骤3中,离子注入方式为N离子单独注入或N离子+Ti离子复合注入。

7.根据权利要求6所述的低温高负载状况下材料表面的无界面强化处理方法,其特征在于:步骤3中,单独注入N离子时:N离子的注入加速电压为40KV,N离子注入剂量为2×1017-8×1017/cm2;复合注入N离子和Ti离子时:N离子的注入加速电压为40KV,Ti离子的注入加速电压为60KV,N离子、Ti离子注入剂量比为1:1,范围均为1×1017-4×1017/cm2

8.根据权利要求6所述的低温高负载状况下材料表面的无界面强化处理方法,其特征在于:步骤3中,离子注入的真空度为10-3-10-4Pa,离子源的N2供气纯度为99.999%,脉冲离子源的Ti阴极纯度为99.8%。

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