[发明专利]一种绝缘子表面污秽盐密测量方法及其装置

权利要求书

1.一种用于清洗绝缘子表面的喷水装置，其特征在于，所述喷水装置包括储水盒、喷头和用于检测储水盒中水量的传感器；所述储水盒通过导管与所述喷头连接，用于将储水盒中的去离子水喷到绝缘子表面。

2.如权利要求1所述的喷水装置，其特征在于，所述喷水装置设有用于给所述储水盒加压的泵。

3.如权利要求1所述的喷水装置，其特征在于，所述喷头包括固定件、套设在固定件外与固定件相对转动的旋转件以及限制旋转件轴向移动的定位机构，所述固定件内部设有腔体，所述固定件上设有喷孔，所述腔体将喷孔与导管连通，所述旋转件上设有至少五个喷孔，旋转件在绕固定件的轴线转动时，旋转件上的喷孔与固定件上的喷孔至少部分重合。

所述固定件上和所述旋转件上的喷孔的直径为0.5~2mm。

4.如权利要求3所述的喷水装置，其特征在于，所述旋转件上的至少五个喷孔沿旋转件的周向间隔均匀设置。

5.如权利要求3所述的喷水装置，其特征在于，所述定位机构包括定位卡阶和定位件；

所述固定件上套设旋转件的部位，其外径小于固定件处其余部位的外径，形成定位卡阶，将旋转件一端定位，旋转件另一端通过与固定件连接的定位件定位。

6.一种用于绝缘子表面污秽盐密测量的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括连接的检测笔和检测装置本体；

所述检测笔的探头将在污水中检测到的电导率传给所述检测装置本体，进行盐密值的计算。

7.如权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述检测笔为含有电导率及温度电极的检测笔。

8.如权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述检测笔长度为5-10cm；电导率及温度电极露出长度为5-10mm作为探头，其余胶铸在检测笔内，所述电导率及温度电极为圆柱形，其半径为1-2mm。

9.一种绝缘子表面污秽盐密测量方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

1）润湿污秽绝缘子表面；

2）检测装置检测步骤1）中污水的电导率；

3）进行电导率到盐密值的换算。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，按下述表达式进行步骤3）的所述电导率换算：

按公式1进行电导率的校正：

σ₂₀＝σ_θ[1-b(θ-20)]          (1)

式中，θ为溶液温度，单位为℃；σ_θ为在温度θ℃下的体积电导率，单位为S/m；σ₂₀为在温度20℃下的体积电导率，单位为S/m；b为因数；

绝缘子表面等值盐密按公式2和公式3计算：

s_a＝(5.7σ₂₀)^1.03          (2)

ESDD＝S_a·V/A          (3)

式中，σ₂₀为在温度20℃下的体积电导率，单位为S/m；ESDD为等值盐密，单位为mg/cm²；V为喷头喷出的去离子水的体积，单位为cm³；A为喷头表面面积，单位为cm²。

11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述b为取决于温度θ的因数，其表达式如下：

b＝-3.2×10^-8θ³+1.032×10^-5θ²-8.272×10^-4θ+3.544×10^-2     (4)。