[发明专利]显示面板的缺陷检测方法及其检测装置无效
申请号: | 201210580603.4 | 申请日: | 2012-12-27 |
公开(公告)号: | CN103076344A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 林勇佑 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/958 | 分类号: | G01N21/958 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦 |
地址: | 518000 广东省深圳市光明新区公*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 缺陷 检测 方法 及其 装置 | ||
技术领域
本发明涉及显示面板检测技术领域,具体而言涉及一种显示面板的缺陷检测方法及其检测装置。
背景技术
随着时代的发展,高品质图像显示的液晶显示面板已变得越来越流行。然而根据现有的显示面板的制造技术,完全避免显示缺陷的发生是十分困难也是不现实的,因此在显示面板的制造工序中,对显示面板进行显示缺陷检查的工序是十分必要的。
现有技术中,一般采用白光照射显示面板,并获取对应的灰阶图,继而根据灰阶图是否出现灰阶差异来判定显示面板是否具有缺陷。然而,由于某些类型的缺陷在白光照射显示面板时对应灰阶图的灰阶差异较小,不容易分辨,因此光学缺陷检查机极易漏检,从而降低对显示面板的缺陷检测能力。
综上所述,有必要提供一种显示面板的缺陷检测方法及其检测装置,以解决上述问题。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种显示面板的缺陷检测方法及其检测装置,以提升光学缺陷检查机对显示面板的缺陷检测能力,防止漏检。
为解决上述技术问题,本发明采用的一个技术方案是:提供一种显示面板的缺陷检测方法,包括:使用多种不同颜色的光依次照射显示面板;获取显示面板在多种不同颜色的光照射时,对应的多个灰阶图;判断显示面板是否具有缺陷,若多个灰阶图出现灰阶差异,则判定显示面板具有缺陷。
其中,获取显示面板在多种不同颜色的光照射时,对应的多个灰阶图的步骤包括:通过拍摄获取显示面板在多种不同颜色的光照射时,对应的像素电极图像;根据像素电极图像获取对应的多个灰阶图。
其中,不同颜色的光是红光、绿光和蓝光,显示面板在红光、绿光和蓝光照射时对应第一灰阶图、第二灰阶图和第三灰阶图。
其中,检测方法进一步包括:使用白光照射显示面板;获取显示面板在白光照射时的第四灰阶图;根据第四灰阶图判断显示面板是否具有缺陷;若第四灰阶图未出现灰阶差异,则判定显示面板不具有缺陷,并进行使用红光、绿光以及蓝光依次照射显示面板的步骤。
其中,根据第四灰阶图判断显示面板是否具有缺陷的步骤还包括:若第四灰阶图出现灰阶差异,则判定显示面板具有缺陷。
为解决上述技术问题,本发明采用的另一个技术方案是:提供一种显示面板的缺陷检测装置,包括:光源模块,分别使用不同颜色的光照射显示面板;获取模块,获取显示面板在光源模块使用不同颜色的光照射时,对应多个灰阶图;处理模块,根据获取模块获取的多个灰阶图,判断显示面板是否具有缺陷,若多个灰阶图出现灰阶差异,则判定显示面板具有缺陷。
其中,检测装置还包括拍摄模块,拍摄模块用于拍摄获取显示面板在不同颜色的光照射时对应的像素电极图像,获取模块根据拍摄模块获取的像素电极图像获取对应的灰阶图。
其中,不同颜色的光是红光、绿光和蓝光,显示面板在红光、绿光和蓝光照射时对应第一灰阶图、第二灰阶图和第三灰阶图。
其中,光源模块进一步用于使用白光照射显示面板,拍摄模块获取显示面板在白光照射时的像素电极图像,获取模块根据拍摄模块获取的白光照射时的像素电极图像获取对应的第四灰阶图。
其中,处理模块根据第四灰阶图判断显示面板是否具有缺陷,若第四灰阶图未出现灰阶差异,则处理模块判定显示面板不具有缺陷,若第四灰阶图出现灰阶差异,则处理模块判定显示面板具有缺陷。
本发明的有益效果是:本发明通过使用多种不同颜色的光依次照射显示面板,并获取对应的多个灰阶图,进而根据灰阶图出现灰阶差异判定并检测具有缺陷的显示面板。本发明能够提升光学缺陷检查机对显示面板的缺陷检测能力,防止漏检。
附图说明
图1是本发明显示面板的缺陷检测方法一实施例的流程示意图;
图2是本发明一实施例的显示面板的缺陷检测第一步骤示意图;
图3是本发明一实施例的显示面板的缺陷检测第二步骤示意图;
图4是本发明一实施例的显示面板的缺陷检测第三步骤示意图;
图5是显示面板在红光、绿光和蓝光照射时的灰阶正常的灰阶图;
图6是显示面板在红光、绿光和蓝光照射时的灰阶差异的灰阶图;
图7是本发明显示面板的缺陷检测方法另一实施例的流程示意图;
图8是显示面板在白光照射时的灰阶差异的灰阶图;
图9是本发明显示面板的缺陷检测装置一实施例的流程示意图。
具体实施方式
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