[发明专利]基于杂波统计分布模型和功率谱模型确定杂波模型的方法在审
申请号: | 201210581873.7 | 申请日: | 2012-12-27 |
公开(公告)号: | CN103020474A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 闵昭 | 申请(专利权)人: | 北京航天福道高技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F19/00 | 分类号: | G06F19/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100195 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 统计 分布 模型 功率 确定 方法 | ||
1.一种基于杂波统计分布模型和功率谱模型的杂波模型确定方法,主要分为以下几个步骤:
1)数据输入:
输入各种幅度分布模型和功率谱所需的参数;
2)选择所需的幅度分布模型和功率谱并生成波形图,包括:
①瑞利杂波的生成:
使用AR模型产生相关高斯杂波,通过Levison递推算法得出AR模型参数,再根据模型公式计算出相关高斯序列,最后得到一定长度的杂波输出信号;
②威布尔杂波的生成:
使用ZMNL模型生成威布尔分布的相参非高斯杂波;
③对数-正态杂波的生成:
迭代计算并平滑处理功率谱,杂波序列生成部分采用类似威布尔分布的算法;
④K分布杂波的生成:
功率谱部分使用AR模型,波形生成部分采用调制变量S和ZMNL算法,得到最后的输出波形;
3)图形显示、数据保存和/或数据输出:
通过计算在软件界面上显示生成杂波的包络曲线、幅度分布曲线和功率谱曲线。并将相关数据保存和/或传输出去。
2.根据权利要求1所述的基于杂波统计分布模型和功率谱模型的杂波模型确定方法,其特征在于:输入的参数包括方差、形状参数和带宽。
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