[发明专利]基于杂波统计分布模型和功率谱模型确定杂波模型的方法在审

专利信息
申请号: 201210581873.7 申请日: 2012-12-27
公开(公告)号: CN103020474A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 闵昭 申请(专利权)人: 北京航天福道高技术股份有限公司
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100195 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 统计 分布 模型 功率 确定 方法
【权利要求书】:

1.一种基于杂波统计分布模型和功率谱模型的杂波模型确定方法,主要分为以下几个步骤:

1)数据输入:

输入各种幅度分布模型和功率谱所需的参数;

2)选择所需的幅度分布模型和功率谱并生成波形图,包括:

①瑞利杂波的生成:

使用AR模型产生相关高斯杂波,通过Levison递推算法得出AR模型参数,再根据模型公式计算出相关高斯序列,最后得到一定长度的杂波输出信号;

②威布尔杂波的生成:

使用ZMNL模型生成威布尔分布的相参非高斯杂波;

③对数-正态杂波的生成:

迭代计算并平滑处理功率谱,杂波序列生成部分采用类似威布尔分布的算法;

④K分布杂波的生成:

功率谱部分使用AR模型,波形生成部分采用调制变量S和ZMNL算法,得到最后的输出波形;

3)图形显示、数据保存和/或数据输出:

通过计算在软件界面上显示生成杂波的包络曲线、幅度分布曲线和功率谱曲线。并将相关数据保存和/或传输出去。

2.根据权利要求1所述的基于杂波统计分布模型和功率谱模型的杂波模型确定方法,其特征在于:输入的参数包括方差、形状参数和带宽。

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