[发明专利]一种电子元器件参数测试装置

权利要求书

1.一种电子元器件参数测试装置，包括中央处理器，控制单元，电平转换单元，电压、电流检测单元，存储单元和人机交互单元，其特征在于：

中央处理器，分别与人机交互单元和控制单元连接，用于测试激励的载入、状态数据的分析和与人机交互单元进行交互；

控制单元，分别与存储单元、电压、电流检测单元和电平转换单元连接，用于实现激励信号的生成、调整和输出，采集被测芯片的输出信号，检测激励及采样信号的电压和电流信息，并调整被测芯片的供电电压；

电平转换单元，分别与控制单元和被测芯片连接，用于将控制单元发出的测试激励信号转换为实际施加在被测芯片上的信号；

电压、电流检测单元，分别与控制单元和被测芯片连接，用于将采集到的被测芯片的电压电流信息发送给控制单元；

存储单元，该存储单元包括SSD存储模块和DDR数据缓冲区。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述中央处理器为x86处理器，采用SOM/COM架构核心板，外扩SSD作为数据存储器，并通过PCI总线及UART两种连接方式同时与控制单元进行通信，其中PCI总线用于对控制单元发出激励生成控制，UART用于从控制单元获取监控数据。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述控制单元为FPGA。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述电平转换单元以32路信号为一组，分组进行信号方向和信号电平的设置。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述电平转换单元还包括有信号保护电路。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述电压、电流检测单元中有检流电阻。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述测试装置还包括有测试电源和双保护电路，所述测试电源用于为被测芯片供电，所述双保护电路用于提供两级的过流保护。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于：所述双保护电路包括过流检测保护电路和自恢复保险丝。

9.一种电子元器件参数测试方法，该方法采用如权利要求1-8任一所述的测试装置，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一：配置基础资源，根据测试芯片的引脚设定和转接板情况选择电源供给电压、IO方向及IO电平标准，并根据测试项目连接电流检测电路；

步骤二：测试形式选择，所述形式包括有单步测试、连续测试和扩展测试；

步骤三：输入测试激励，根据测试形式，选择导入真值表或手工输入真值表，导入波形文件的方式输入测试激励；

步骤四：获取并输出测试结果。

10.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于：所述步骤三中的导入的真值表为CSV格式真值表，所述波形文件为CSV格式或VCD格式的波形文件。