[发明专利]一种多光源检测装置

说明书

技术领域

本发明属于一种多光源检测装置，特别涉及一种具有三类主动光源、用于获取待测物体数字图像的显微设备，属于检测装置的改造技术。

背景技术

在生产过程中，很多时候都需要对产品的外观是否有裂纹等缺陷进行检测。传统的检测方式是检测人员使用放大镜、显微镜等光学系统采用人工操作的方式对待测物进行检测，这种检测方式效率极低，工人劳动强度大、出错率高。

随着传感技术的进步，现在已经出现了采用图像处理技术来对产品外观进行检测的数字显微镜设备。这类设备的工作原理如下：待测物体放置于特定的位置，然后用图像传感器对其拍照，获得待测物体的数字图像，再通过计算机对图像信息进行处理，从而得到待测物体的外观情况数据，从而判断待测物体是否存在缺陷。这种检测方式的检测效率比人工的检测效率检测提高了，但由于目前数字显微镜设备多采用被动光源或单一类型的主动光源，使得所获取的数字图像的清晰度有限，难以判断细小的裂纹缺陷，降低了检测结果的准确性。

发明内容

本发明所解决的技术问题是克服上述现有技术的不足，提供一种经济实用、准确可靠的用于检测待测物外观缺陷的多光源检测装置。本发明多光源检测装置可快速地检测待测物体外观缺陷情况，并能保持较高的检测准确性。

本发明所采取的技术方案是：本发明的多光源检测装置，包括有拍摄装置、用于照射待测物体的上表面中心区域的同轴光源模块、用于照射待测物体的上表面周边区域的环光源模块、用于照射待测物体的侧面的侧光源模块，环光源模块装设在待测物体的一侧，且侧光源模块安装在环光源模块的一侧，同轴光源模块安装在环光源模块的另一侧，拍摄装置安装在同轴光源模块的同一侧，且环光源模块的中部设有能使同轴光源模块所发出的光束通过及使拍摄装置能拍摄到待测物体的通孔，拍摄装置的信号输出端与图像处理装置的信号输入端电连接。

本发明采用同轴光源模块、环光源模块和侧光源模块三个种类的主动光源对待测物体进行照明。通过侧光源模块对待测物体对侧面的照明，提高图像传感器模块对待测物体轮廓的分辨能力，提高了图像传感器模块对待测物体的识别能力，有效减少了错误地对非对待测物体区域进行检测的情况发生。通过同轴光源模块与环光源模块的配合，为待测物体的上表面提供了全区域的均匀光照，提高了图像传感器模块获取待测物体图像的质量，使得对裂纹等外国缺陷的判断精度达到10μm的等级。

附图说明

图1是具有本发明多光源检测装置的透视图；

图2是具有本发明多光源检测装置的正面剖视图；

图3是具有本发明多光源检测装置的同轴光源模块侧面剖视图。

具体实施方式

实施例：

图1、图2和图3示出了本发明多光源检测装置的一种实施方式。

如图1、图2和图3所示, 为了更好地表达本发明多光源检测装置的结构，图中省略了部分非重要的安装机架。

本发明的多光源检测装置，包括有拍摄装置1、用于照射待测物体8的上表面中心区域的同轴光源模块2、用于照射待测物体8的上表面周边区域的环光源模块3、用于照射待测物体8的侧面的侧光源模块4，环光源模块3装设在待测物体8的一侧，且侧光源模块4安装在环光源模块3的一侧，同轴光源模块2安装在环光源模块3的另一侧，拍摄装置1安装在同轴光源模块2的同一侧，且环光源模块3的中部设有能使同轴光源模块2所发出的光束通过及使拍摄装置1能拍摄到待测物体8的通孔7，拍摄装置1的信号输出端与图像处理装置的信号输入端电连接。

为了确保拍摄装置1的拍摄效果，所述拍摄装置1所设摄像头的几何中心与同轴光源模块2发出的光束的光轴中心重合。所述同轴光源模块2发出的光束的光轴中心与待测物体8的几何中心重合。

本实施例中，所述环光源模块3设有若干呈环状分布的、能照亮待测物体8的上表面周边区域的环光源发光体31，且若干环光源发光体31所在同心圆的几何中心与待测物体8的几何中心重合。

为了准确定位拍摄装置1的拍摄位置，所述环光源模块3上还装设有用于标定拍摄装置1拍摄待测物体8的拍摄区域的激光标定模块6。激光标定模块向待测物体8发射激光，拍摄装置1就拍摄激光照射的位置，激光的发射方向可以根据使用需要调节，以便于拍摄装置1拍摄待测物体8的具体指定区域。本实施例中，所述图像处理装置为计算机；所述拍摄装置1为图像传感器模块。

本实施例中，所述侧光源模块4通过侧光源模块支架42安装在环光源模块3的一侧；所述激光标定模块6通过激光标定模块支架61安装在环光源模块3的一侧。