[发明专利]一种薄膜晶体管无效
申请号: | 201210583133.7 | 申请日: | 2012-12-28 |
公开(公告)号: | CN103050542A | 公开(公告)日: | 2013-04-17 |
发明(设计)人: | 任知良;王明刚;王雪梅 | 申请(专利权)人: | 青岛润鑫伟业科贸有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786 |
代理公司: | 北京爱普纳杰专利代理事务所(特殊普通合伙) 11419 | 代理人: | 何自刚 |
地址: | 266000 山东省青岛*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄膜晶体管 | ||
1.一种薄膜晶体管,包括衬底、源漏极、有源层、绝缘层以及栅极,其中有源层为含VIIB族金属氧化物。
2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于上述VIIB族金属氧化物包括Mn、Tc和Re的一种或多种。
3.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于上述衬底为柔性或刚性衬底。
4.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于上述缓冲层为有机物或无机物。
5.根据权利要求4所述的薄膜晶体管,其特征在于上述有机物为环氧树脂以及光敏材料。
6.根据权利要求4所述的薄膜晶体管,其特征在于上述无机物为硅氧化物、硅氮化物。
7.一种薄膜晶体管的制作工艺,用于制作权利要求1-6的薄膜晶体管,其特征在于各结构层分别采用下述方法制备:
(1)采用真空蒸发或溅射技术制备栅极。
(2)采用磁控溅射Si把生成二氧化硅作为电介质绝缘层。
(3)采用磁控溅射方法制备氧化物有源层。
(4)通过真空蒸发或溅射工艺形成一层ITO或金属作为源极和漏极。
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