[发明专利]一种用于继电器的密封检漏方法及其装置

权利要求书

1.一种用于继电器的密封检漏方法，其特征在于：包括标定过程和实测过程；

在标定过程中，先是对密封的空治具腔体内的压力进行标定，在预设的第一时刻到达时检测出空治具腔体内压力值P0，在预设的第二时刻到达时检测出空治具腔体内压力值P1，并计算得出两个时刻之间的压力差的值△P1＝P0－P1；接着再对已知的大泄漏继电器放入密封的治具腔体内的压力进行标定，在所述第一时刻到达时检测出治具腔体内压力值P2，在所述第二时刻到达时检测出治具腔体内压力值P3；

在实测过程中，将待测继电器放入密封的治具腔体内，对治具腔体内压力进行测试，在所述第一时刻到达时检测出治具腔体内压力值P6，在所述第二时刻到达时检测出治具腔体内压力值P7，并计算得出两个时刻之间的压力差的值△P3＝P6－P7；

当所述压力值P6小于或等于压力值P2时，判定所述待测继电器存在大泄漏，为不合格产品；当所述压力值P6大于压力值P2时，再比较△P3/△P1的值，当△P3/△P1大于或等于预设的阈值时，判定所述待测继电器存在微泄漏，为不合格产品，当△P3/△P1小于预设的阈值时，判定所述待测继电器为合格产品。

2.根据权利要求1所述的用于继电器的密封检漏方法，其特征在于：进一步的，当所述压力值P6小于或等于压力值（1＋10%）P2时，判定所述待测继电器存在大泄漏，为不合格产品；当所述压力值P6大于压力值（1＋10%）P2时，再比较△P3/△P1的值，当△P3/△P1大于或等于预设的阈值时，判定所述待测继电器存在微泄漏，为不合格产品，当△P3/△P1小于预设的阈值时，判定所述待测继电器为合格产品。

3.一种用于继电器的密封检漏装置，其特征在于：包括一下模体、一上模体、多个真空阀、多个真空压力变送器、一抽真空装置、多个三通接头、一压力数据采集模块和一计算机处理系统；所述下模体设有多个第一凹槽；所述上模体设有多个与下模体的第一凹槽相对应的第二凹槽，当上模体与下模体合模时，相对应的第一凹槽和第二凹槽分别围成能够容纳继电器的腔体；每个真空阀分别连接一个由对应的第一凹槽和第二凹槽所围成的腔体；各个三通接头的第一端分别连接一个对应的真空阀，各个三通接头的第二端分别连接至抽真空装置，各个三通接头的第三端分别连接一个对应的真空压力变送器；各个真空压力变送器分别连接至压力数据采集模块；压力数据采集模块连接至计算机处理系统。

4.根据权利要求3所述的用于继电器的密封检漏装置，其特征在于：所述第二凹槽和对应的第一凹槽之间还设有密封结构，所述密封结构设在第一凹槽的槽沿处。

5.根据权利要求3所述的用于继电器的密封检漏装置，其特征在于：所述第二凹槽和对应的第一凹槽之间还设有密封结构，所述密封结构设在第二凹槽的槽沿处。

6.根据权利要求3所述的用于继电器的密封检漏装置，其特征在于：所述的每个真空阀分别通过一条真空气路连接到下模体的对应的第一凹槽中。

7.根据权利要求3所述的用于继电器的密封检漏装置，其特征在于：所述的每个真空阀分别通过一条真空气路连接到上模体的对应的第二凹槽中。