[发明专利]一种基于激光透射的物料分选方法和装置

权利要求书

1.一种基于激光透射的物料分选方法，其步骤包括：利用激光线光源对待检测物料进行照射；光电传感器对透射过待检测物料的透射散射光进行信号探测并将所述信号传送至控制系统；所述控制系统判定所述待检测物料是否为异物；如是异物，则剔除，其特征在于：基于不同物料的透明特性、体散射特性差异，激光线光源的透射光在其背面形成不同的强度和分布，所述光电传感器探测到的是透射散射光的光强度和分布信息，所述控制系统对所述信号进行处理，且与控制系统中预存的待保留物料的对应参数进行比对，如果控制系统的处理结果没有落入预存的待保留物料的对应参数范围内，则判定为异物。

2.如权利要求1所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：所述激光线光源的光出射面和光电传感器的探测面形成夹角小于5度。

3.如权利要求1所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：所述激光线光源采用静态的激光线光源。

4.如权利要求3所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：所述激光线光源采用在激光器输出窗口前添加柱透镜或鲍威尔透镜将激光点光源转为线光源。

5.如权利要求3所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：所述激光线光源采用多个张开小角度的激光器并排排列形成线光源。

6.如权利要求1所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：所述激光线光源的出射面为一扇面，所述扇面的张开角度小于30度。

7.如权利要求1所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：所述光电传感器观测张开的角度小于30度。

8.如权利要求1所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：激光线光源照射物料，光电传感器采集透射过所述待检测物料形成的透射散射光面信号。

9.如权利要求1所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：激光线光源照射物料，光电传感器采集透射过所述待检测物料形成的透射散射光线信号。

10.如权利要求1所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：激光线光源照射物料，光电传感器采集透射过所述待检测物料形成的透射散射光点信号。

11.如权利要求8至10任一项所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：所述控制系统将光电传感器探测的待分选物料单次透射散射光信号进行处理并与控制系统中预存的对应参数进行比对。

12.如权利要求8至10任一项所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：所述控制系统将光电传感器探测的综合透射散射光信号进行处理并与控制系统中预存的对应参数进行比对，光电传感器每隔一定时间对物料的光信号进行探测，控制系统通过对各次的光信号进行处理即可得到物料的综合透射散射光信号。

13.如权利要求12所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：当采集的是透射散射光面信号时，需对于每次采集的数据进行处理，得到单次采集面信号对应的待考察参数值，实际记录的仅为待考察的参数，经过多次采集、处理后得到综合面参数，并与控制系统中预存的对应参数进行比对。

14.如权利要求12所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：当采集的是线或点信号时，每次只需采集数据，记录一段时间后，综合处理得到其综合透射散射光信号。

15.如权利要求8所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：所述光电传感器采用的是面阵光电传感器。

16.如权利要求9所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：所述光电传感器采用的是线阵光电传感器。

17.如权利要求10所述的基于激光透射的物料分选方法，其特征在于：所述光电传感器采用的是点光电传感器。