[发明专利]外观检查装置和外观检查方法有效

专利信息
申请号: 201210584213.4 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN103207183A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: 内山直哉;森本英敏 申请(专利权)人: 株式会社其恩斯
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G06K9/46
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 陈源;李铭
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 外观 检查 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种外观检查装置,其将检查对象的拍摄图像与被看作非缺陷物品的各物品的一组图像进行比较,以进行非缺陷/缺陷判定,所述外观检查装置包括:

图像输入单元,用于接收构成被看作非缺陷物品的各物品的一组图像的多个图像的输入,并存储这些图像;

阈值设置单元,用于基于所存储的所述多个图像设置用于检测检查对象的缺陷部位的缺陷阈值;

缺陷量计算单元,用于基于所设置的缺陷阈值针对所存储的所述多个图像中的每一个图像计算将与判定阈值进行比较的缺陷量,所述判定阈值用于对所述检查对象进行非缺陷/缺陷判定;

异常值测试单元,用于通过统计处理来测试每个计算出的缺陷量是否是异常值;以及

信息显示单元,用于显示和输出异常值信息,该异常值信息用于指定其缺陷量已经被测试为异常值的图像。

2.根据权利要求1所述的外观检查装置,包括:

选择接收单元,用于接收对要从被看作非缺陷物品的各物品的所述一组图像中删除的图像的选择。

3.根据权利要求1所述的外观检查装置,其中所述异常值测试单元利用参数化技术和非参数化技术中的至少一个来执行测试。

4.根据权利要求1所述的外观检查装置,其中所述异常值测试单元利用参数化技术和非参数化技术二者来执行测试。

5.根据权利要求1所述的外观检查装置,其中所述缺陷量计算单元将所述缺陷量计算为通过对图像中浓度大于所述缺陷阈值的连续区域中包含的差分浓度进行求和而得到的浓度积分值。

6.根据权利要求1所述的外观检查装置,其中所述信息显示单元按照所述缺陷量的降序来显示和输出所述异常值信息。

7.一种可由外观检查装置执行的外观检查方法,所述外观检查装置将检查对象的拍摄图像与被看作非缺陷物品的各物品的一组图像进行比较,以进行非缺陷/缺陷判定,所述方法包括以下步骤:

接收构成被看作非缺陷物品的各物品的一组图像的多个图像的输入,并存储这些图像;

基于所存储的所述多个图像设置用于检测检查对象的缺陷部位的缺陷阈值;

基于所设置的缺陷阈值针对所存储的所述多个图像中的每一个图像计算将与判定阈值进行比较的缺陷量,所述判定阈值用于对所述检查对象进行非缺陷/缺陷判定;

通过统计处理来测试每个计算出的缺陷量是否是异常值;以及

显示和输出异常值信息,该异常值信息用于指定其缺陷量已经被测试为异常值的图像。

8.根据权利要求7所述的外观检查方法,包括以下步骤:

接收对要从被看作非缺陷物品的各物品的所述一组图像中删除的图像的选择。

9.根据权利要求7所述的外观检查方法,其中利用参数化技术和非参数化技术中的至少一个来执行测试。

10.根据权利要求7所述的外观检查方法,其中利用参数化技术和非参数化技术二者来执行测试。

11.根据权利要求7所述的外观检查方法,其中将所述缺陷量计算为通过对图像中浓度大于所述缺陷阈值的连续区域中包含的差分浓度进行求和而得到的浓度积分值。

12.根据权利要求7所述的外观检查装置,其中按照所述缺陷量的降序来显示和输出所述异常值信息。

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