[发明专利]一种用于铜互连抛光的工艺方法无效
申请号: | 201210585146.8 | 申请日: | 2012-12-28 |
公开(公告)号: | CN103898511A | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
发明(设计)人: | 荆建芬;王雨春;张建;蔡鑫元;姚颖;陈宝明 | 申请(专利权)人: | 安集微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | C23F3/04 | 分类号: | C23F3/04 |
代理公司: | 上海翰鸿律师事务所 31246 | 代理人: | 李佳铭 |
地址: | 201203 上海市浦东新区张*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 互连 抛光 工艺 方法 | ||
1.一种用于铜互连抛光的工艺方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤A:用铜化学机械抛光液去除铜并停在阻挡层表面,
步骤B:用阻挡层化学机械抛光液去除阻挡层、二氧化硅覆盖层、部分低介电材料和部分铜。
2.如权利要求1所述的工艺方法,其特征在于,所述步骤B可分为两步进行。
3.如权利要求1所述的工艺方法,其特征在于,所述步骤A的抛光压力为1.0~2.0psi,抛光头的转速为50~120rpm。
4.如权利要求1所述的工艺方法,其特征在于,所述步骤B的抛光压力为1.0~2.0psi,抛光头的转速为50~120rpm。
5.如权利要求1所述的工艺方法,其特征在于,所述铜抛光液包含研磨颗粒、络合剂、氧化剂,腐蚀抑制剂。
6.如权利要求1所述的工艺方法,其特征在于,所述阻挡层抛光液包含研磨颗粒、络合剂、氧化剂,腐蚀抑制剂。
7.如权利要求5或6所述的工艺方法,其特征在于,所述的研磨颗粒为二氧化硅、氧化铝、掺杂铝或覆盖铝的二氧化硅、二氧化铈、二氧化钛、高分子研磨颗粒中的一种或多种。
8.如权利要求5或6所述的工艺方法,其特征在于,所述的研磨颗粒的重量百分比浓度为0.2~10%.
9.如权利要求5或6所述的工艺方法,其特征在于,所述的络合剂为氨羧化合物及其盐、有机羧酸及其盐、有机膦酸及其盐和有机胺中的一种或多种。
10.如权利要求9所述的工艺方法,其特征在于,所述的氨羧化合物选自甘氨酸、丙氨酸、缬氨酸、亮氨酸、脯氨酸、苯丙氨酸、酪氨酸、色氨酸、 赖氨酸、精氨酸、组氨酸、丝氨酸、天冬氨酸、苏氨酸、谷氨酸、天冬酰胺、谷氨酰胺、氨三乙酸、乙二胺四乙酸、环己二胺四乙酸、乙二胺二琥珀酸、二乙烯三胺五乙酸和三乙烯四胺六乙酸中的一种或多种;所述的有机羧酸为醋酸、草酸、柠檬酸、酒石酸、丙二酸、丁二酸、苹果酸、乳酸、没食子酸和磺基水杨酸中的一种或多种;所述的有机膦酸为2-膦酸丁烷-1,2,4-三羧酸、氨基三甲叉膦酸、羟基乙叉二膦酸、乙二胺四甲叉膦酸、二乙烯三胺五甲叉膦酸、2-羟基膦酸基乙酸、乙二胺四甲叉膦酸和多氨基多醚基甲叉膦酸中的一种或多种;所述的有机胺为乙二胺、二乙烯三胺、五甲基二乙烯三胺、多乙烯多胺、三乙烯四胺、四乙烯五胺中的一种或多种;所述的盐为钾盐、钠盐和/或铵盐。
11.如权利要求5或6所述的工艺方法,其特征在于,所述的络合剂的含量为重量百分比0.05~5%。
12.如权利要求11所述的工艺方法,其特征在于,所述的络合剂的含量为重量百分比0.05~3%。
13.如权利要求5或6所述的工艺方法,其特征在于,所述的氧化剂为过氧化氢、过氧化脲、过氧甲酸、过氧乙酸、过硫酸盐、过碳酸盐、高碘酸、高氯酸、高硼酸、高锰酸钾和硝酸铁中的一种或多种。
14.如权利要求5或6所述的工艺方法,其特征在于,所述的氧化剂的含量为重量百分比0.05~5%。
15.如权利要求5或6所述的工艺方法,其特征在于,所述的腐蚀抑制剂为氮唑、咪唑、噻唑、吡啶和嘧啶类化合物中的一种或多种。
16.如权利要求15所述的工艺方法,其特征在于,所述的氮唑类化合物选自苯并三氮唑、5-甲基苯并三氮唑、5-羧基苯并三氮唑、1-羟基-苯并三氮唑、1,2,4-三氮唑、3-氨基-1,2,4-三氮唑、4-氨基-1,2,4-三氮唑、3,5-二氨基-1,2,4-三氮唑、5-羧基-3-氨基-1,2,4-三氮唑、3-氨基-5-巯基-1,2,4-三氮唑、5-乙酸-1H-四氮唑、5-甲基四氮唑、5-苯基四氮唑、5-氨基-1H-四氮唑和1-苯基-5-巯基-四氮唑中的一种或多种;所述的咪唑类 化合物选自苯并咪唑和2-巯基苯并咪唑中的一种或多种;所述的噻唑类化合物选自2-巯基-苯并噻唑、2-巯基噻二唑和5-氨基-2-巯基-1,3,4-噻二唑中的一种或多种;所述的吡啶选自2,3-二氨基吡啶、2-氨基吡啶和2-吡啶甲酸中的一种或多种;所述的嘧啶为2-氨基嘧啶。
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