[发明专利]存储器故障诊断装置、存储器故障诊断方法有效

专利信息
申请号: 201210585230.X 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN103714861A 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 中谷博司;大西直哉;天木智;鲛田芳富;登古诚 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G11C29/08 分类号: G11C29/08
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 杨谦;胡建新
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 存储器 故障诊断 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明的实施方式涉及一种存储器故障诊断装置和存储器故障诊断方法。

背景技术

例如在要求高安全性的成套设备等的安全测量仪表系统中,需要针对对系统进行控制的控制装置的存储器进行故障诊断。

由于安全测量仪表系统要求以年为单位的长期无重启的连续运转,因此,不仅在系统启动时,在运转当中也需要进行对存储器的故障诊断。

一般说来,在成为故障诊断对象的存储器的故障中,除了1个存储器单元的读/写(Read/Write)错误以外,还存在读/写了某个存储器单元时,其他存储器单元的值发生变化的耦合失效。

该耦合失效的故障诊断算法有走步式(Walkpath)(也称为Walking Bit(走步位))或GALPAT(跳步模式)。

走步式(Walkpath)是一种遍及诊断对象的整个存储器区域,一边接通/断开1位或者多位的关注存储器的值,一边试验剩余的存储器区域的值是否正确的方法。

该方法能检测出整个存储器区域的耦合失效,但是由于存储器的写入读出(读/写)次数与存储器尺寸的平方成正比,因此存在诊断对象的存储器容量变大时故障诊断时间就加速增大的问题。

对于该问题,作为缩短存储器故障诊断所需的处理时间的方式,有分级设定存储器的故障诊断区域来减少存储器存取次数的方式。

发明内容

在上述的分级设定存储器的故障诊断区域来减少存储器存取次数的方式的情况下,在存储器故障诊断中,必须要进行禁止对诊断对象区域以外的存储器写入的排他处理的存储器区域很宽,因此,存在排他处理时间变长的问题。

即,该存储器诊断在利用走步式的诊断方式中,采取向1个存储器单元写入并确认对剩余整个区域的影响的方式。因此,需要禁止向该区域写入存取的排他处理,直到确认对剩余整个区域的处理结束为止。

但是,例如在安全测量仪表系统中,由于在控制周期内必须要使用执行应用处理后的间隔时间来进行存储器的故障诊断,因此,在诊断对象区域的存储器尺寸大的情况下,用于该存储器诊断的存取禁止时间会比间隔时间长,有遍及控制周期的多个循环来禁止对诊断对象区域的写入之虞。

因此,要将有关应用处理的命令和数据复制到预先规定的存储器的保全区域中,使用保全区域来执行应用处理。

另外,由于向存储器保全区域的复制也需要时间,因此,有复制期间将控制中断等的妨碍应用处理动作的问题。

本发明是为了解决上述问题点而完成的,其目的在于,提供一种使用预先设定的控制周期内的应用执行后的间隔时间,用最小时间进行存储器的故障诊断,使得诊断对象区域的存储器全部故障诊断时间成为最小的存储器故障诊断装置和存储器故障诊断方法。

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