[发明专利]CMOS芯片自动开短路测试系统及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种开短路测试仪及测试方法，具体是涉及一种CMOS芯片自动开短路测试系统及测试方法，适用于DVP接口、MIPI单通道接口、MIPI双通道接口、MIPI四通道接口和自定义接口等各种类型的CMOS芯片的开短路测试。

背景技术

开短路测试（又称OPEN/SHORT 测试，O/S测试），主要是用于测试电子器件的连接情况，顾名思义，开短路测试就是测试开路与短路，开短路测试应用非常的广泛，例如：测试PCB板，测试IC邦定线，测试IC的封装，测试线材，测试FPC，测试薄膜开关，测试连接器等等，不同的应用又有比较特别的需求，目前，CMOS芯片的开短路测试仪只能针对并口的产品进行测试，无法满足市场上越来越多的MIPI接口CMOS芯片的开短路测试。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提出一种CMOS芯片自动开短路测试系统及测试方法，能够满足市场上各种CMOS芯片的自动开短路测试，优化测试效率的同时提高了测试的精度，可依据不同的CMOS芯片制定测试标准。

本发明的技术方案是这样实现的：

一种CMOS芯片自动开短路测试系统，包括主控芯片、多路复用模块、液晶显示模块和存储模块，所述主控芯片分别与所述多路复用模块、所述液晶显示模块和所述存储模块相连接，所述多路复用模块与待测CMOS芯片相连接，所述主控芯片能够通过所述多路复用模块对待测CMOS芯片的管脚进行信号采集并通过软件进行信号处理，能够通过所述存储模块对信号处理结果进行存储，还能够通过液晶显示模块将信号处理结果显示出来。

作为本发明的进一步改进，另设有拨码装置，所述拨码装置与所述多路复用模块相连接，所述多路复用模块能够通过所述拨码装置选择与待测CMOS芯片相匹配的接口模式。

作为本发明的进一步改进，所述接口模式为DVP接口、MIPI单通道接口、MIPI双通道接口、MIPI四通道接口和自定义接口中的一种。

作为本发明的进一步改进，另设有通信模块，所述通信模块与所述主控芯片相连接，所述主控芯片能够通过所述通信模块为所述主控芯片供电和传输数据。

作为本发明的进一步改进，所述通信模块为USB通信接口。

一种CMOS芯片自动开短路测试系统的测试方法，包括如下步骤：

a、开路测试，首先，主控芯片通过多路复用模块给待测CMOS芯片的GND管脚输入1.5V的测试信号，然后，主控芯片通过多路复用模块依次采集待测CMOS芯片各管脚的保护二极管的导通压降信号，如果当前的管脚的保护二极管没有采集到导通压降信号，则判定当前的管脚开路，否则，则判定当前管脚正常，通过存储模块存储开路测试信息。

b、短路测试，首先，主控芯片通过多路复用模块依次给待测CMOS芯片的一个管脚输入1.5v的测试信号，然后，主控芯片通过多路复用模块采集并对比除输入信号管脚以外其它管脚的输出信号是否与输入信号相同，如果信号相同则判定当前被采集对比的管脚与信号输入管脚短路，如果信号不相同则判定当前管脚正常，通过存储模块存储短路测试信息；

c、将开路信息与短路信息通过液晶显示模块显示出来。

本发明的有益效果是：本发明提供一种CMOS芯片自动开短路测试系统，主控芯片通过多路复用模块给待测CMOS芯片的GND管脚输入测试信号，然后，判断待测CMOS芯片各管脚的保护二极管是否有导通压降信号，能够实现CMOS芯片的开路测试，主控芯片通过多路复用模块依次给待测CMOS芯片的一个管脚输入1.5v的测试信号，然后，判断输入信号管脚与其它管脚的输出信号是否相同，能够实现CMOS芯片的短路测试，特别的，多路复用模块通过拨码装置选择与待测CMOS芯片相匹配的接口模式，接口模式为DVP接口、MIPI单通道接口、MIPI双通道接口、MIPI四通道接口和自定义接口中的一种，能够有效满足市场上各种CMOS芯片的自动开短路测试，优化测试效率的同时提高了测试的精度。

附图说明

图1为本发明原理示意框图；

图2为本发明测试流程示意图。

具体实施方式