[发明专利]接口信号测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种接口测试装置，尤其涉及一种测试计算机外围设备接口信号的装置。

背景技术

近年来，随着电子通讯技术的快速发展，电脑连接总线和接口标准已逐渐更新提升。新标准PCIE（Peripheral Component Interconnect Express，主机外围设备快速传递）接口以高传输率、较大兼容性的优点而逐渐取代传统的AGP（Accelerate Graphical Port，快速图形接口）接口和PCI（Peripheral Component Interconnect，外围元件连接）接口。

随着PCIE接口的普及，PCIE端口输出信号的正常与否是备受人们关注的问题。通常，计算机主板上设有与PCIE信号端相连的PCIE插槽，该插槽上设有若干与PCIE信号端相连的引脚，该引脚包括位于B1、B2端口或A2、A3端口的12V电源引脚。随着PCIE插槽功率的提高，其输出的12V电压的准确度也尤为重要。在以往的测试中，通常采用在B1、B2引脚或A2、A3引脚上焊接测试探棒，由测试探棒或引线将两个电源信号端连接到示波器上测量电压及电流。由于PCIE插槽的引脚密集，将测试探棒或引线焊接在对应的电源引脚上会加大焊接难度，若焊接不当，不但会损坏PCIE插槽及主板；还会影响12V电源引脚的电压的正常输出；同时，若焊接处没有靠近PCIE插槽引脚的末端，则会产生干扰信号，使输出的测试电压不准确。

发明内容

本发明提供一种可方便及准确地测出外围设备快速传递插槽的电源引脚的输出电压的装置。

一种接口信号测试装置，包括线路板，所述线路板上设有第一信号端、地信号端及位于线路板一侧的若干金手指，该金手可插接于待测外围设备快速传递接口插槽内，并用以在测试时将第一信号端及地信号端电连接至待测外围设备快速传递插槽的电源引脚及地引脚，所述第一信号端包括第一凸柱及位于第一凸柱中央的第一凹孔，所述地信号端包括第二凸柱及位于第二凸柱中央的第二凹孔，所述第一凹孔及第二凹孔与外部测试仪的测试插头配合连接。

本发明的接口信号测试装置包括一与外围设备快速传递（PCIE，Peripheral Component Interconnect Express）插槽相连的线路板，该线路板上设有与PCIE插槽的12V电源引脚电连接的第一信号端及地信号端，以将PCIE插槽的12V电源引脚引出，进而通过电压表连接至线路板的第一信号端及地信号端，进而，可方便准确地测量出PCIE插槽的12V电源引脚的电压。

附图说明

图1是本发明接口信号测试装置的较佳实施例的示意图。

图2是本发明接口信号测试装置测试待测外围设备快速传递插槽时的示意图。

主要元件符号说明