[发明专利]半导体堆栈结构及其制法有效
申请号: | 201210589731.5 | 申请日: | 2012-12-28 |
公开(公告)号: | CN103187379A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 何彦仕;关欣;尤龙生;刘沧宇;郑家明 | 申请(专利权)人: | 精材科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L23/31;H01L21/56;H01L21/60 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 中国台湾桃园县中*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 堆栈 结构 及其 制法 | ||
1.一种半导体堆栈结构,其特征在于,包括:
芯片,其具有相对的第一表面与第二表面、及相邻该第一表面与该第二表面的侧面,该芯片的第一表面具有多个电性接触垫,且该芯片的第二表面上具有线路重布层,而该芯片的侧面上具有隔离层,又该芯片中具有导电盲孔以电性连接该线路重布层与该电性接触垫;
保护层,其形成于该芯片的第二表面与该线路重布层上;以及
基板,其具有多个坝块以对应各该电性接触垫,并供该芯片通过其第一表面结合于该基板上。
2.根据权利要求1所述的半导体堆栈结构,其特征在于,该隔离层形成于该芯片的第二表面与该线路重布层之间、及该导电盲孔的孔壁上。
3.根据权利要求1所述的半导体堆栈结构,其特征在于,该基板为硅基板或玻璃板。
4.一种半导体堆栈结构的制法,其特征在于,包括:
提供一具有相对的第一表面与第二表面的晶圆,该晶圆的第一表面具有多个电性接触垫;
将该晶圆通过其第一表面设置于一第一承载件上;
形成多个盲孔于该晶圆的第二表面上,以令所述电性接触垫对应外露出各该盲孔;
由该晶圆的第二表面切割该晶圆,以形成多个芯片;
将各该芯片由该第一承载件移至一设有多个定位部的第二承载件上,且该芯片的第二表面设置于该第二承载件上,以外露该芯片的第一表面,并令所述定位部对应位于各该芯片之间,使各该芯片之间具有间距;
提供表面具有多个坝块的基板,以将各该芯片第一表面上的电性接触垫对应各该坝块,使各该芯片其第一表面结合于该基板上;
移除该第二承载件及所述定位部;
形成隔离层于各该芯片的第二表面、盲孔的孔壁与各该芯片的侧面上,且该电性接触垫外露出该盲孔;
形成线路重布层于各该芯片的第二表面上的部分隔离层上,且形成导电盲孔于该盲孔中,以通过该导电盲孔电性连接该线路重布层与该电性接触垫;
形成保护层于各该芯片的第二表面上的隔离层与该线路重布层上;以及
沿各该芯片之间的间距切割该基板,以形成多个该半导体堆栈结构。
5.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于,该第一承载件为玻璃板。
6.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于中,该第一承载件通过粘着层结合于该晶圆的第一表面上。
7.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于,该第二承载件为散热胶带、硅板或玻璃板。
8.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于,该定位部为网版或该第二承载件上的凸状。
9.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于,该基板为硅基板或玻璃板。
10.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于,该制法还包括形成该盲孔之前,研磨该晶圆的第二表面。
11.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于,该制法还包括切割该基板时,一并切割该坝块。
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