[发明专利]半导体堆栈结构及其制法有效

专利信息
申请号: 201210589731.5 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN103187379A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 何彦仕;关欣;尤龙生;刘沧宇;郑家明 申请(专利权)人: 精材科技股份有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L23/31;H01L21/56;H01L21/60
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 中国台湾桃园县中*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 堆栈 结构 及其 制法
【权利要求书】:

1.一种半导体堆栈结构,其特征在于,包括:

芯片,其具有相对的第一表面与第二表面、及相邻该第一表面与该第二表面的侧面,该芯片的第一表面具有多个电性接触垫,且该芯片的第二表面上具有线路重布层,而该芯片的侧面上具有隔离层,又该芯片中具有导电盲孔以电性连接该线路重布层与该电性接触垫;

保护层,其形成于该芯片的第二表面与该线路重布层上;以及

基板,其具有多个坝块以对应各该电性接触垫,并供该芯片通过其第一表面结合于该基板上。

2.根据权利要求1所述的半导体堆栈结构,其特征在于,该隔离层形成于该芯片的第二表面与该线路重布层之间、及该导电盲孔的孔壁上。

3.根据权利要求1所述的半导体堆栈结构,其特征在于,该基板为硅基板或玻璃板。

4.一种半导体堆栈结构的制法,其特征在于,包括:

提供一具有相对的第一表面与第二表面的晶圆,该晶圆的第一表面具有多个电性接触垫;

将该晶圆通过其第一表面设置于一第一承载件上;

形成多个盲孔于该晶圆的第二表面上,以令所述电性接触垫对应外露出各该盲孔;

由该晶圆的第二表面切割该晶圆,以形成多个芯片;

将各该芯片由该第一承载件移至一设有多个定位部的第二承载件上,且该芯片的第二表面设置于该第二承载件上,以外露该芯片的第一表面,并令所述定位部对应位于各该芯片之间,使各该芯片之间具有间距;

提供表面具有多个坝块的基板,以将各该芯片第一表面上的电性接触垫对应各该坝块,使各该芯片其第一表面结合于该基板上;

移除该第二承载件及所述定位部;

形成隔离层于各该芯片的第二表面、盲孔的孔壁与各该芯片的侧面上,且该电性接触垫外露出该盲孔;

形成线路重布层于各该芯片的第二表面上的部分隔离层上,且形成导电盲孔于该盲孔中,以通过该导电盲孔电性连接该线路重布层与该电性接触垫;

形成保护层于各该芯片的第二表面上的隔离层与该线路重布层上;以及

沿各该芯片之间的间距切割该基板,以形成多个该半导体堆栈结构。

5.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于,该第一承载件为玻璃板。

6.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于中,该第一承载件通过粘着层结合于该晶圆的第一表面上。

7.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于,该第二承载件为散热胶带、硅板或玻璃板。

8.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于,该定位部为网版或该第二承载件上的凸状。

9.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于,该基板为硅基板或玻璃板。

10.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于,该制法还包括形成该盲孔之前,研磨该晶圆的第二表面。

11.根据权利要求4所述的半导体堆栈结构的制法,其特征在于,该制法还包括切割该基板时,一并切割该坝块。

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