[发明专利]一种增量式编码器断线检测电路无效

专利信息
申请号: 201210592058.0 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN103048584A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 高保峰;张雷;陈强;李海东;许洪华;赵斌;赵栋利;武鑫 申请(专利权)人: 北京科诺伟业科技有限公司;保定科诺伟业控制设备有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 关玲
地址: 102200 北京市昌*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 增量 编码器 断线 检测 电路
【权利要求书】:

1.一种增量式编码器断线检测电路,其特征在于,所述的增量式编码器断线检测电路包括整流单元和光耦检测单元;整流单元和光耦检测单元通过输入电阻连接,构成断线检测回路;所述的整流单元包括与编码器连接的A相差分输入检测整流桥(B1)、B相差分输入检测整流桥(B2)和Z相差分输入检测整流桥(B3);A相差分输入检测整流桥(B1)、B相差分输入检测整流桥(B2)和Z相差分输入检测整流桥(B3)均为两相不控整流桥;光耦检测单元包括A相检测光耦(G1)、B相检测光耦(G2)和Z相检测光耦(G3)。

2.根据权利要求1所述的增量式编码器断线检测电路,其特征在于,所述的检测电路中,编码器的A相差分信号输出正端(A+)与A相整流桥(B1)的任一输入侧连接,A相差分信号输出负端(A-)与A相整流桥(B1)的另一输入侧连接,B相差分差分信号输出正端(B+)与B相整流桥(B2)的任一输入侧连接,B相差分信号输出负端(B-)与B相整流桥(B2)的另一输入侧连接,Z相差分信号输出正端(Z+)与Z相整流桥(B3)的任一输入侧连接,Z相差分信号输出负端(Z-)与Z相整流桥(B3)的另一输入侧连接。

3.根据权利要求1所述的增量式编码器断线检测电路,其特征在于,所述的检测电路中,所述的A相差分输入检测整流桥(B1)输出的一端接A相输入电阻(R1),A相差分输入检测整流桥(B1)输出的另一端接A相检测光耦(G1)的输入侧的负端;B相差分输入检测整流桥(B2)输出的一端接B相输入电阻(R2),B相差分输入检测整流桥(B2)输出的另一端接B相检测光耦(G2)输入侧的负端;Z相差分输入检测整流桥(B3)输出的一端接Z相输入电阻(R3),Z相差分输入检测整流桥(B3)输出的另一端接Z相检测光耦(G3)输入侧的负端;A相输入电阻(R1)另一端接A相检测光耦(G1)输入侧的正端,B相输入电阻(R2)的另一端接B相检测光耦(G2)输入侧的正端,Z相输入电阻(R3)的另一端接Z相检测光耦(G3)输入侧的正端。

4.根据权利要求1所述的增量式编码器断线检测电路,其特征在于,所述的检测电路中,A相续流二极管(D1)并联在A相检测光耦(G1)的输入侧,B相续流二极管(D2)并联在B相检测光耦(G2)的输入侧,Z相续流二极管(D3)并联在Z相检测光耦(G3)的输入侧。

5.根据权利要求1所述的增量式编码器断线检测电路,其特征在于,所述的检测电路中,A相上拉电阻(R4)的一端接A相光耦(G1)的输出侧,A相上拉电阻(R4)的另一端接电源(VC);B相上拉电阻(R5)的一端接B相光耦(G2)的输出侧,B相上拉电阻(R5)的另一端接电源(VC);Z相上拉电阻(R6)的一端接Z相光耦(G3)的输出侧,Z相上拉电阻(R6)的另一端接电源VC;A相电容(C1)的一端接A相检测回路的输出侧,A相电容(C1)的另一端接GND,B相电容(C2)的一端接B相检测回路的输出侧,B相电容(C2)的另一端接GND;Z相电容(C3)的一端接Z相检测回路的输出侧,Z相电容(C3)的另一端接GND。

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