[发明专利]用于测试磁性薄膜材料力和磁耦合的测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种用于测试磁性薄膜材料力和磁耦合的测试装置，其特征在于，包括光源、起偏镜、检偏镜、第一分光镜、第二分光镜、第一光栅、第二光栅、透镜、过滤屏、第一光线采集装置和第二光线采集装置，所述第一分光镜、第二分光镜、第一光栅、第二光栅、透镜、过滤屏和第一光线采集装置顺序排列在一水平直线上，所述光源、起偏镜设置在第一分光镜的一侧，且光源、起偏镜和第一分光镜处于同一水平直线上，所述第二光线采集装置和检偏镜设置在第二分光镜的一侧，且第二光线采集装置、检偏镜和第二分光镜处于同一水平直线上。

2.根据权利要求1所述的用于测试磁性薄膜的磁性薄膜材料力和磁耦合的测试系统，其特征在于，所述第一光线采集装置和第二光线采集装置采用相机或摄像机。

3.根据权利要求1或2所述的用于测试磁性薄膜的磁性薄膜材料力和磁耦合的测试系统，其特征在于，所述第一光栅和第二光栅间的距离为60mm，所述第二光栅和过滤屏间的距离在40-60mm间。

4.利用权利要求1、2和3所述的用于测试磁性薄膜材料力和磁耦合的测试装置的测试方法，其特征在于，所述光源发出的白光经起偏镜后成为偏振光，该偏振光经第一分光镜后照射到位于磁场环境中的磁性薄膜表面，该偏振光经磁性薄膜表面反射后经第二分光镜后分为两个光束，其中一个光束经检偏镜后被第二光线采集装置采集，另一光束经分别经第一光栅和第二光栅干涉后形成条纹，该条纹经透镜和过滤屏后被第一照光线采集装置采集。